ДЕМИДОВ НИКОЛАЙ ФЕДОРОВИЧ

  ОПИСА ИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н пп 471629 Сава Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 26.11.73 (21) 1974124/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 25.05.75. Бюллетень № 19 Дата опубликования описания 27.08.75 (51) М. Кл. Н Olj 9/42 Государственный комитет Совета Министров СССР ао делам на...

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕРЬС7ВУ

  Всеооевная ЙйтемттеЕ-т.ак ничесяоча Союз Советск Социалистических Республик (112 К АВТОРСКОМУ СВИДВТВЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (53)M. Кл. G 06 G 7/48 (22) Заявлено 11,01.79 (2I ) 2714460/18 — 24 с присоединением заявки Ле 4 (23) Приоритет Гасударственный комитет СССР ао делам изооретений и открытий Опубликовано 30.09 80. Бюллетень М 36 (5З ) Уд К 681.333 (08...

  ОП ИСАНИ Е ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических P.åàåóáëíê «i>946502 (61) Дополнительное к авт. свмд-ву«» aa. Кл. (22) Заявлено 263380 (2>) 2898637/28-13 с присоединением заявки №(23) Приоритет— А 61 В 5/02 Государственный комитет СССР ио делам. изобретений и открытий Опубликовано 30))782 бюллетень ¹ 28 {53) УДК 615. 47 (088. 8) Дата опу...

  Изобретение относится к области измерительной техники. Цель изобретения - повышение точности и быстродействия . Устр-во содержит два изме рительных зонда 1 и 2, исследуемый диэлектрик 3, проводящую подложку 4, дополнительньШ у-ль 5, задающий г-р 6, у-ль 7, фильтр нижних частот 8, индикатор 9. С целью повьшения точности и быстродействия в него введе- |Ны последовательно соединенны...

  Изобретение относится к приборостроению, может быть использовано для определения электрических свойств носителей информации на гибкой основе и позволяет упростить конструкцию устройства и улучшить качество преобразования. Устройство содержит считывающий блок, включающий диск 1, вращающуюся считывающую головку-электростатический зонд 2, усилитель 3 в полости диска, скользящие конта...

  Изобретение м.б. использовано в измерительной технике, электротехнике, микроэлектронике, дефектоскопии при измерении поверхностных распределений заряда и потенциала на диэлектрических и высокоомных полупроводниковых слоях. fUu 10N бЛгЙ 666666 П Металлический измерительный электрод 1 расположен в заземленном электростатическом экране 2 и отделен от него диэлектрической вставкой 3,...