Жерлицын А.Г.

 По способу функционального поражения полупроводниковых радиоэлектронных средств объект облучают мощным потоком СВЧ-излучения в полосе частот, регистрируют спектр сигналов переизлучения от объекта на четных гармониках, получают амплитудно-частотную зависимость переизлученных сигналов и по ее характеру определяют рабочую частоту излучения, необходимую для наиболее вероятного поражения объек...