PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КУЛЕШОВ ЮРИЙ СЕРГЕЕВИЧ

Изобретатель КУЛЕШОВ ЮРИЙ СЕРГЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ газового борирования

Способ газового борирования

  1 би, .)л " Qт зкф А О П И С А Н И Е > 478892 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено 29.06.73 (21) 1943162/22-1 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— Опубликовано 30.07.75. Бюллетень № 28 Дата опубликования описания 24.02.76 (51) М. Кл. С 23с 11/08 Государственный коми...

478892

Способ газового борирования стальных изделий

Способ газового борирования стальных изделий

  н1 558066 Со,оз Советских Сопи"лис нческих PecII1Iолик Ф ( (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 09.08.74 (21) 2051714/02 151) М. Кл. - С 23С 11, 08 с присоединением заявки № Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Опубликовано 15.05.77. Бюллетень . А 18 Дата опубликования опнса:щя 14.06.77 (53) УДК 621.785.539 (088.8) (72) Авторы изобретения Ю. С. Ку...

558066

Спо об газового борирования изделий

Спо об газового борирования изделий

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Саюз Советских Сециалистичесянх Веспублик 685719 (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) 3аявлено 100478 (21) 2603049/22-02 с присоединением заявки HP (23) Приоритет {51)М. Кл.2 С 23 С 11/00 Государственный коинтет СССР но делан нзобретенн и н открытий (53) УДК 621.785.53 (088. 8) Опубликовано 1509.79 Бюллетень М 34 Дата о...

685719

Устройство для очистки отработанных газов борирования изделий в смеси треххлористого бора и водородсодержащего газа

Устройство для очистки отработанных газов борирования изделий в смеси треххлористого бора и водородсодержащего газа

  %iy тр ОП ИСАЙЙИ CoIo3 Советскмх Соцкалнстмческик республик (!1) 78О866 и ЗОБРетЕн ЙЯ К АВТОРСКОМУ СВИДИ ЙЛЬСТВУ Ынаи Ырук;МФь ндиКВМи (61) Доцалннтельное к авт. свид ву (51)М. Кл. — В 01 D 47/02 (22) Заявлено 26.12,78 (2 I ) 2704471/23-26 и )натан. нанн а мк «нее с присоединением заявки М (23) Приоритет Веударстаеаый кемктет CCCP е делам ваабретеввв н еткрмтвв Опубликован...

780866

Способ определения параметров диэлектрической пленки

Способ определения параметров диэлектрической пленки

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДЮЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПЛЕНКИ, заключающийся в том, что пленку освещают излучением,поляризьванным в плоскости , перпендикулярной плоскости падения , последовательно изменяя угол падения, регистрируют поток отраженного излучения, определяют угол Брюстера, по которому вычисляют показатель преломления пленки, и определяют толщину пленки, Отличающийся тем, что,...

1193459


Способ определения неоднородности диэлектрической пленки на диэлектрической подложке

Способ определения неоднородности диэлектрической пленки на диэлектрической подложке

  Изобретение относится к измерению размеров предметов или расстояний между предметами, о.снованному на оптических методах. Цель изобретенияупрощение способа. Всю поверхность исследуемой пленки на подложке освещают под углом Брюстера лучем белого света, поляризованным параллельно плоскости падения, наблюдают отраженный луч и по наличию и расположению цветовых пятен судят о наличии...

1363029

Устройство для магнитной обработки жидкости

Устройство для магнитной обработки жидкости

  Изобретение относится к устройствам для магнитной обработки жидкости и разработано для применения в системах технического водоснабжения для охлаждения конденсаторов турбин, а также теплообменных аппаратов ответственных и неответственных потребителей АЭС и позволяет повысить эффективность магнитной обработки при одновременном упрощении конструкции. Предлагаемое устройство содержит...

1511216

Способ определения неоднородности диэлектрической пленки на диэлектрической подложке

Способ определения неоднородности диэлектрической пленки на диэлектрической подложке

  Изобретение относится к оптическому анализу материалов и может найти применение в интегральной оптике и оптике покрытий. Цель изобретения - расширение класса исследуемых диэлектрических пленок на неинтерферирующие пленки с толщиной более 1,2 мкм. На поверхности исследуемой неинтерферирующей пленки создают однородную интерферирующую пленку, которую освещают под углом Брюстера к неи...

1599722