Ермаков К.Н.

 Изобретение относится к области исследования и анализа материалов и может быть использовано для прогнозирования поведения диэлектрика в радиационных полях, для описания динамики накопления радиационного объемного заряда. Способ основан на измерении наведенного тока, возникшего под действием облучения диэлектрического материала. При этом диэлектрический материал помещают между двумя объема...