ТИТОВ МИХАИЛ НИКОЛАЕВИЧ
Изобретатель ТИТОВ МИХАИЛ НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ количественной регистрации ик-свч излучения Способ количественной регистрации ик-свч излучения](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2fd6ece4a2a9a212758239dbe55f9ec0.jpg)
Способ количественной регистрации ик-свч излучения
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ! >i! 486226 Союз Советских Соыналистнческих Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 19.10.72 (21) 1837762/26-25 (5!) М. Кл. G Olj 1,/58 с присоединени=.ì заявки М Гасударственный комитет Совета Министров СССР (23) Приоритет Опубликовано 30.09.75. Бюллетень ¹ 36 Дата опубликования описания 09.01.76 (53) УДК...
486226![Способ регистрации концентрации локализованных носителей заряда в полупроводниках Способ регистрации концентрации локализованных носителей заряда в полупроводниках](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0b39bbdf962f99b5e61a7c1f2e854d4b.jpg)
Способ регистрации концентрации локализованных носителей заряда в полупроводниках
Союз Советских Социалистичесюа Республик Оп ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДВПЛЬСТВУ < 669301 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 01.09.75 (21) 2169349)18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл . G 01 R 31/26 Гапударстеенньа номнтет СССР па делам нзюбретеннй н етнрытнй (53) УДК 621.382 (088.8) Опубликовано 25.06.79. Бюллетень № 23...
669301![Высоковольтный импульсный конденсатор Высоковольтный импульсный конденсатор](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5a2a7395721ba57af2b49dbd7b21dce0.jpg)
Высоковольтный импульсный конденсатор
Союз Соаетснмк Соцмалмстмчесник реснубпмн (iii 687477 I в .лБч М (83) Дополнительное к авт. санд-ву (22) Заявлено 21.01.77 (21) 2443722/18-21 с присоединением заявки М (23) Приоритет Опубликовано 25.09.79.Бюллетень М35 Дата опубликования описания 30,09.79 Н 01 G 4/14 Гвеудврстеевмвй юарт СССР в двлам изебвваввй в вткрвтвв (53) УДК 621.319. .4 (088.8) (72) А втор изобретения...
687477![Устройство для исследования структурного совершенства монокристаллов Устройство для исследования структурного совершенства монокристаллов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b21c795034ae4eaa9a6ea4f8c00033cb.jpg)
Устройство для исследования структурного совершенства монокристаллов
Союз Советских Соцналнстнчвскнх Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВ ЕТЕЛЬСТВУ 11 с (61) Дополнительное к авт. саид-ау (22) Заявлено 2711.79 (21) 2846191/18-25 с присоедмненмем заявки М (23) Приоритет Опубликовано 150881. Бюллетень Но 30 Дата опубликования описания 150881. (53)М. Кл.з G 0l и 23/22 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (53)...
855457![Высоковольтный импульсный конденсатор Высоковольтный импульсный конденсатор](https://img.patentdb.ru/i/200x200/1a9622c94d5830280b1016dca7df7804.jpg)
Высоковольтный импульсный конденсатор
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 07. 09 ° 81 (21) 3335174/18-21 (54) М. Кй.з с присоединением заявки М (23) Приоритет - . H G 1/08 Государственный комитет СССР но делам изобретений н открытий Опубликовано 070283.,Бюллетень Йо 5 {53) УДК 621 ° 319 ° . 4 (088. 8) Дата оп...
995137![Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9ce88e5d7e82ba8b95859b9d535e70b8.jpg)
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок
Изобретение относится к технической физике, в частности к электроизмерительной технике, и может быть использовано для неразрушающего контроля удельного электросопротивления полупроводниковых пленок. Цель изобретения - повышение точности за счет увеличения чувствительности и выбора оптимального диапазона частот. Способ состоит в том, что размещают на катушке индуктивности колебате...
1642410![Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/56b6d609224b2895b9e67bcc3ac50e46.jpg)
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для неразрушающего контроля удельного электросопротивления полупроводниковых пленок. Цель изобретения - повышение точности. Способ состоит в дополнитель ном освещении пленки источником света, спектральная характеристика и мощность которого обеспечивают насыщение ловушек захвата в полупроводниковой пленке, и пров...
1758589![Датчик относительной влажности и температуры Датчик относительной влажности и температуры](https://img.patentdb.ru/i/200x200/74e34d0603687408b3f86c7afdfb840b.jpg)
Датчик относительной влажности и температуры
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (st)s G 01 N 27/00 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР Ig i 1! ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4849617/25 (22) 28.05.90 (46) 23.09.92. Бюл. ¹ 35 (71) Всесоюзный научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (72) А, Н. Ануфриев, М,Н, Титов и Ю.А. Ходос (56...
1763960![Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f2b5782c3cf03d431b11e764f3cc9a42.jpg)
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок
Изобретение относится к технической физике, может быть использовано для неразрушающего контроля удельного электросопротивления полупроводниковых пленок и является усовершенствованием основного изобретения по авт. св. № 1642410. Исследуемую полупроводниковую пленку помещают в кювету из немагнитного непроводящего ток материала, наполненную диэлектрической немагнитной жидкостью , те...
1774283![Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/646cccf2fef45ca11c74853c430f0de9.jpg)
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок
Использование: в технической физике и измерительной технике. Сущность изобретения: способ состоит в помещении образца в один из элементов высокочастотного (ВЧ) колебательного контура, измерении изменения добротности ВЧ контура, дополнительно параллельно катушке ВЧ колебательного контура подключают измерительный конденсатор , выполненный в виде двух проводящих обкладок, расположен...
1835522