Бушевой С.Н.

 Изобретение относится к области испытания и контроля цифровых полупроводниковых интегральных микросхем (ИС) и может быть использовано в сборочном производстве электронных средств при входном контроле показателей радиационной стойкости ИС, содержащих запоминающие устройства (ЗУ). Задачей, решаемой изобретением, является снижение трудоемкости и повышение оперативности и достоверности разбра...