PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КОНОНЧУК ВИТАЛИЙ МОИСЕЕВИЧ

Изобретатель КОНОНЧУК ВИТАЛИЙ МОИСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для автоматического регулирования толщины полосы материала

Устройство для автоматического регулирования толщины полосы материала

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДвкТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик < >49П22 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 28.02.74 (21) 2002880/18-24 (51) Ч. Кл. 6 05d 5, 00 с присоединением заявки— Государственный комитет Совета Министров СССР ло делам изобретений ы открытий (23) Приоритет— Опубликовано 05.11.75. Бюллетень ¹ 41 Дата о...

491122

Устройство для измерения и регулирования количества вещества,нанесенного на текстильные материалы

Устройство для измерения и регулирования количества вещества,нанесенного на текстильные материалы

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ (i i1 5049 I9 Союз Соввтскик Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт, свид-ву (22) Заявлено 09.10.73 (21) 1963234/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 28.02.76. Бюллетень № 8 Дата опубликования описания 04.05.76 (51) М. Кл.- з6 01В 15, 02 G 01Х 23/06 Государственный комитет Совета Министров...

504919

Устройство для измерения и регулирования количества вещества, нанесенного на текстильные материалы

Устройство для измерения и регулирования количества вещества, нанесенного на текстильные материалы

  (11) И ЗОБРЕТЕ Н ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву 50-:919 Союз Советских Социалистических Республик (51) И.Кл. С 01 В 15,!00 G 01 Х 23106 (22) Заявлено 30.05.78 (21) 2623678! 18-28 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— Государственный комитет СССР по делеи изобретений и открытий (53) УДК 531.717.11 (088.8) (43) Опубликовано 30.09.79....

688822

Способ измерения толщины слоев двухслойного материала

Способ измерения толщины слоев двухслойного материала

  Изобретение относится к измеритель ной технике и может быть использовано для измерения толщины обоих слоев двухслой ного материала. Цель изобретения - расширение диапазона измеряемых толщин от единиц до десятков миллиметров и обеспечение возможности измерения материалов атомный номер которых не превышает 14 Сущность изобретения: на поверхности измеряемого материала зкозь р ст ири...

1768970