БАРБАШЕВ ЕВГЕНИЙ АНДРЕЕВИЧ
Изобретатель БАРБАШЕВ ЕВГЕНИЙ АНДРЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ измерения прочностных характеристик материала Способ измерения прочностных характеристик материала](https://img.patentdb.ru/i/200x200/071c6a3061a9374bd705c3e117f6912b.jpg)
Способ измерения прочностных характеристик материала
Союз Соеетских СОЦ11аЛ1",TH" --.CHH".. Респу ::;; и 111) 4975Î2 И АВ7ОРСИОМэт СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 12.01.73 (21) 1874022/25-8 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.12,75. Бюллетень № 48 (45) Дата опубликования описания 21.04.78 (51) M. Кл. G 01N 3/08 Госуда р стаеииый комитет Совета MHHHcTpoB СССР Il9 делам из...
497502![Способ определения максимальной температуры объектов Способ определения максимальной температуры объектов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8f31d30171d668fb7383b5ba2e4a033a.jpg)
Способ определения максимальной температуры объектов
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИД%ТЕЛЬСТВМ Союз Советских Социалистических Рвспубпик 943537 (61) Дополнительное к авт. свид-вуфи1м Ica з (22) Заявлено 29. 12.80 (21) 3225969/18-10 G 01 К 5/48 G 01 К 11/00 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет— Государственный комитет СССР по делам изобретеиий и открытий (53) УДК 536.51.072. . 4 (088. 8) Опубликовано 15.07.82...
943537![Датчик электростатического поля Датчик электростатического поля](https://img.patentdb.ru/i/200x200/07bc0812b35c0eb680b67ca373353be6.jpg)
Датчик электростатического поля
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к технике измерений напряженности электростатического поля. Целью изобретения является повышение Точности измерений. Датчик содержит электростатический генератор 1 с чувствительным электродом 2. подключенным через уси^литель 3 к синхронному детектору 4, выход которого соединен с интефатором 5 и снабжен цепью обратной связи...
1709246![Способ моделирования светового старения материала Способ моделирования светового старения материала](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2ab8d184d88cd86968bfcf84d51d754b.jpg)
Способ моделирования светового старения материала
Изобретение относится к испытаниям материалов, а именно к способам моделирования светового старения материала. Целью изобретения является ускорение процесса моделирования и повышение точности . Испытуемый материал облучают в вакууме светом узкополосного спектра, фотохимически активного к данному материалу (длинной волны менее 200 нм), при этом используют спектр с энергией кванта...
1760435