ДМИТРИЕВ АЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ
Изобретатель ДМИТРИЕВ АЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для резки полотна намотанного на сушильный цилиндр бумагоделательной машины
510554 ФЗР.>1 ..111!13 1!ОР-тип Я 1. Устройство для резки полотна, намотанного -12 сушильный цилиндр оумагодслат:IbнОЙ м Яш11ны, сод2PK II@22 12Р 2 . 1 еще 2>>1УIО вдоль образующей ц1ьчиндра 011равку, радиалш!ыс направляющие с Опориь!Ми рол11ками И I I ICKOBb12 IIÎiKli, 0 T 1 II Il 1О IЦ С " 51 Тс. 1, 1 О, С ЦЕЛblO ПОВЫШСНИЯ ОСЗОИI! 110ÑГИ ОО .. 1УЖ:1Г>11н и я I! coKp 3 щения...
510554
Объектив с плавным изменением фокусного расстояния
Союз Советсннк Социалистических республик 0395 (6l) Дополнительное к авт. саид-ву. Кл. 02 В 15/14 (22) Заявлено 12.06.78 (21) 2627376/18-1 с присоединением заявки Ж (23) Приоритет Опубликовано 05.03.80. Бюллетень Дата опубликования описания 07.03.8 Ввудврстивккь1к кемктет СССР ае делвм иввретеник к открытий Д )(7 9 1. 35 1..7(088.8) (72) Автори изобретения И. Н. Гаврилин,...
720395
Широкоугольный окуляр для телескопических систем
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное н авт. свид-ву (22) Заявлено 30.03.81 (21) 3268503/18-10 f$$) М.Кп.з G 02 В 25/00 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет Государственный комитет СССР оо делам изобретений и открытий (33) УДК 535 ° 824 ° . 1 (088. 8) Опубликовано 151082. Бюллетень ¹38 Дата опубл...
966648
Способ измерения давления в ударной волне
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ .ДАВЛЕНИЯ В УДАРНОЙ ВОЛНЕ путем измерения скорости ее распространения в прозрачной жидкости, заключающийся в фоторегистрации теневой картины распространения волны на фотоматериале при подсветке среды лазерными импульсами и вычислении скорости по пути, пройденному волной за интервал времени между импульсами, при этом давления вычисляют по известной зависимости дав...
1177704
Объектив эндоскопа
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для передачи изображений на входной торец жгута при наблюдении неподвижных или перемещающихся объектов. Цель изобретения - повышение технологичности устр-ва за счет самоцентрирования компонентов, увеличение угла поля зрения и уменьшение - хроматизма при телецентрическом ходе главных, лучей в пространств...
1339474
Фотоэлектрическое устройство для измерения крутящего момента
Сущность изобретения: при измерении крутящего момента в зависимости от диаметра упругого вала 12 изменяется площадь щели, образованной растровыми дисками 10, по параболическому закону четвертого порядка, т.е„ пропорционально . Изменение площади щели достигается за счет наличия заслонок, установленных между растровыми дисками. Заслонки выполнены в виде подпружиненных рычагов 11, о...
1763911
Способ определения параметров магнитооптического резонанса электронов в полупроводниках
Сущность изобретения: полупроводниковый образец, помещенный в постоянное магнитное поле, облучают монохроматическим светом, направленным параллельно направлению магнитного поля. Измеряют зависимость фототока, направленного параллельно направлению облучения от величины прилагаемого м,агнитного поля. Величину резонансного магнитного поля и ширину резонанса определяют из полученной...
1767583