Саунин С.А.

 1. Сканирующий туннельный микроскоп, содержащий головку, включающую сканер с измерительным зондом, инерционный пьезодвижитель с установленным на нем держателем образца, систему управления пьезодвижителем и присоединенные своими цифровыми входами непосредственно к ЭВМ и первыми аналоговыми выходами через канал обработки данных к ЭВМ канал туннельного тока, соединенный с измерительным зондо...

 1. Сканирующий зондовый микроскоп, содержащий систему подачи и сканирования образца, измерительную головку, включающую платформу, установленные на ней полупроводниковый лазер и фотодатчик отклонения отраженного луча лазера, электронные схемы управления и регистрации, включающие канал сканирующего туннельного микроскопа, канал атомно-силового микроскопа и канал обратной связи, систему акус...

 Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах в условиях сверхвысокого вакуума и в широком диапазоне температур. В сверхвысоковакуумном сканирующем зондовом микроскопе, содержащем платформу с объектным блоком, состоящим из первого ловителя, держателя об...

 Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в режиме сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) или атомно-силового микроскопа (АСМ). Возможно также использование изобретения в устройствах, где необходимо точно поддерживать расстояние между объектами. В сканирующем зондовом микроскопе, сод...

 Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах. Микроскоп содержит первую и вторую вакуумные камеры, манипулятор, платформу, на которой закреплены привод со сканером, держатель зонда с зондом, а также источник света и фотоприемник, оптически сопряженные...

 Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете. Сущность изобретения заключается в том, что в сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с и...

 Способ включает использование магниточувствительного проводящего зонда. При первом сканировании возбуждают колебания зонда на первой частоте и сближают его с поверхностью образца до достижения амплитуды его колебаний предустановленного значения и поддерживают системой обратной связи амплитуду колебаний зонда путем взаимного относительного вертикального позиционирования зонда и поверхности...

 Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим микроперемещения по трем координатам. Сущность изобретения: пьезосканер содержит набор n пьезотрубок одного диаметра с параллельными торцами и сплошными электродами на наружной и внутренней поверхностях, соединенных соосно друг с другом по n-1 торцу соединительными элементами и с первым и вторым основа...

 Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно - к устройствам, обеспечивающим получение информации о магнитном состоянии поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии. Сущность: в зонд на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа, содержащий кварцевый резонатор с первой иглой, закрепленной на первом плече, введена вторая игла, изготовле...

 Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ). Сущность: в носителе зондов, содержащем проводящее основание с системой отверстий и блоком механического крепления зонда с острием, выступающим относительно него, блок механическог...

 Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур. Сущность изобретения: в широкопольном сканирующем зондовом микроскопе, содержащем держатель объекта с первым приводом, держатель зонда со вторым приводом, а также третий привод перемещения зонда относительно о...

 Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов с использованием жидкостных ячеек методом сканирующей зондовой микроскопии. Сущность: в сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) с жидкостной ячейкой, содержащий платформу, держатель кантилевера, кантилевер, держатель образца с образцом, магнитный захват, оптический блок слежения за к...

 Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов в жидкостной среде с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии. В сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) с жидкостной ячейкой, содержащий платформу с пьезосканером с держателем образца, плиту с кантилевером, первое уплотнение, соединенное с плитой, оптический блок слеж...

 Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим очистку поверхности образцов перед измерением и другими технологическими операциями. Сущность изобретения заключается в том, что в устройстве нагрева для сканирующих зондовых микроскопов, содержащем манипулятор с захватом, носитель объекта с объектом, токоподвод, соединенный с источн...

 Изобретение относится к способу формирования сенсорного элемента сканирующего зондового микроскопа. Заключается в нанесении исходного материала на зонд кремниевого кантилевера, формировании сфокусированного электронного пункта в непосредственной близости от зоны начала формирования роста сенсорного элемента и управлении ростом острия посредством перемещения зонда относительно фокуса элект...

 Оптический зонд содержит кварцевый резонатор и источник колебаний, закрепленные на основании, а также оптическое волокно, установленное на первом плече кварцевого резонатора посредством прижима. Прижим содержит захват и установлен на основании с возможностью подвижки захвата относительно первого плеча кварцевого резонатора, а оптическое волокно закреплено на основании и расположено под уг...

 Сканирующий зондовый микроскоп с системой слежения за кантилевером содержит сопряженный с основанием сканер с кантилевером, закрепленным на сканере с возможностью взаимодействия с образцом, первое зеркало, связанное со сканером, и лазер, оптически сопряженный с первым зеркалом, кантилевером и фотоприемником. Траектория перемещения кантилевера расположена на сфере. Первое зеркало закреплен...