СВИРИД ВЛАДИМИР ЛУКИЧ
Изобретатель СВИРИД ВЛАДИМИР ЛУКИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для измерения добротности резонансных контуров Устройство для измерения добротности резонансных контуров](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3d84f6d7c255174e720e1f6a3b101bbd.jpg)
Устройство для измерения добротности резонансных контуров
(и> 5Р65О СПИ@А ИЕ" Союз Советских Социалистических Я з"Ъ 5 Р Е Т вт Я " -т К АВТОРСИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Республик (61) Дополнительное к авт. свлд-ву (22) Заявлено 16.08.74 (21) 2054384/21 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Оп "бликоваио 30.06,76. Бюллетень № 24 (51) И, "(.,з 6 01Р 27« 26 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (>3)...
519650![Способ измерения напряжения отсечки полевых транзисторов Способ измерения напряжения отсечки полевых транзисторов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ffd664b3ddc1dd4186a424af164d16fd.jpg)
Способ измерения напряжения отсечки полевых транзисторов
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДИТИДЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 11.11.73 (21) 1970403/25 с присоединением заявки № Союз Советских Социалистических Республик. Кл.е 0l К 31/26 (23) Г1риоритетГосударственный комитет Совета Министров СССР оо делам иэооретений и открытий (43) Опубликовано05.08.76. Бюллетень № 29 (45) Дата опубликования описания...
524144![Устройство для измерения напряжения отсечки полевых транзисторов Устройство для измерения напряжения отсечки полевых транзисторов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a7a3f5926ec4812df7417515445484a7.jpg)
Устройство для измерения напряжения отсечки полевых транзисторов
Союз Советских Социалистимеских Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (11) 543894 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 19.09.75 (21) 2172849/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет— (43) Опубликовано25.01,77.Бюллетень № 3 (45) Дата опубликования описания18.05.77 (51) М. Кл,"G 01 К 31/26 Государственный комитет Совета Министров СССР по...
543894![Устройство температурной коррекции характеристик полевых транзисторов Устройство температурной коррекции характеристик полевых транзисторов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/78893031b26d65136b3f9581c0e34135.jpg)
Устройство температурной коррекции характеристик полевых транзисторов
О П И С А Н И Е II1560l92 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ СОюз Советскик Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свпд-ву (22) Заявлено 11.11.73 (21) 1969695/25 (51) М, Кл. - G 01R 31/26 с присоединением заявки ¹ Государственный комитет Совета Министоов СССР ло делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 30.05.77. Бюллетень № 20 Дата опубл...
560192![Устройство для измерения полых проводимостей и добротности нелинейных элементов Устройство для измерения полых проводимостей и добротности нелинейных элементов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6bad9a96859455565f2e639e555d44d5.jpg)
Устройство для измерения полых проводимостей и добротности нелинейных элементов
Союз Советскмх Соцкалксткческнх Республмк ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ "" 691781 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (51)M. Кл. G 01 Н 27/26 G 01 Б 27/00 (22) Заивлено 14.09.77 (2l) 2523992/18-21 ! с присоединением заявки РЙ Государственный кеатет ссср ао делам изобретений н открктий (23) Приоритет Опубликовано 15.10.79. Бюллетень М38 Дата опубликова...
691781![Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e9ed2c57c135584e2be581320178b7af.jpg)
Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторов
rii> 714317 Союз Советскмх Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ИТВЛЬСТВУ Я ф(1 - " ч- -- (51) М. Кл. *,!,У C ф (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено: 210977 (21) 2525795/18-25 с присоединением заявки HP— (23) Приоритет— Опубликовано 0502.80. Бюллетень )49 5 G 01 R 31/26 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открыти...
714317![Устройство для измерения температурных коэффициентов составляющих дрейфа параметров полевых транзисторов Устройство для измерения температурных коэффициентов составляющих дрейфа параметров полевых транзисторов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2557140f045bab621617119641ecd833.jpg)
Устройство для измерения температурных коэффициентов составляющих дрейфа параметров полевых транзисторов
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ои737891 Союз Советскнк Соцнапнстнческык Республик /у (61) Дополнительное к авт. свид-ву - („г G 01 R 31/26 (22) Заявлено 140977 (21) 2523991/18-25 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет Опубликовано 300580. Бюллетень ¹ Дата опубликования описания 05. 06 . 80 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий...
737891![Измеритель добротности колебательных контуров Измеритель добротности колебательных контуров](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a3806a3fbb23de86b2a48f6f08a7959d.jpg)
Измеритель добротности колебательных контуров
Союз Советских переводя ее в режим автоподстройки. С этого момента времени система поиска следит за состоянием точной настройки генератора 2 на резонансную частоту контура 1 и через блок управления 23 воздейст9437 6 вует на переключатель 24, который соединяет выход вычитающего устройства 19 с управляющим входом усилителя 5. При этом цепь следящей обратной связи, регулирующе...
739437![Устройство для измерения добротностии емкости варикапов Устройство для измерения добротностии емкости варикапов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9e18a8d7fab2eb91137d389ee1b87487.jpg)
Устройство для измерения добротностии емкости варикапов
Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Опубликовано З0.0181 Бюллетень ¹ 4 Дата опубликования описания 10. 02. 81 (51)М. Кл. G R 31/26 G 01 R 27/26 Государственный комитет СССР но делам изобретений и открытий (53) УАК 621. З82..2 (088.8) (72) Автор изобретения I" 1 „ В.Л.Свирид I I (71) Заявитель Минский радиотехнически...
800910![Устройство для измерения параметровварикапов Устройство для измерения параметровварикапов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/fb9a3c575504ef510732497d9ae47ead.jpg)
Устройство для измерения параметровварикапов
Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ), влияющей лишь на резонансную частоту измерительного блока, 55 которую можно смещать, используя подстроечные элементы, а разностью индуктивностей b(L„ +L> ) при двух положениях переключателя. Поэтому выигрыш в точности измерений, который обеспечивает устройство по сравнению с известным устройством и имеет вид...
800911![Устройство для измерения параметров нелинейных элементов Устройство для измерения параметров нелинейных элементов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/597f7bacd2cbe61df34769b9f01aa27d.jpg)
Устройство для измерения параметров нелинейных элементов
Союз Советских Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 924621 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено. 09.1080 (21) 2989211/18-21 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет Опубликовано 300482. Бюллетень ¹ 16 Дата опубликования описания 3004.82 1Щ М. Кп. G R 27/26 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий 133...
924621![Устройство для измерения параметров аппроксимации характеристик нелинейных элементов Устройство для измерения параметров аппроксимации характеристик нелинейных элементов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/1b4bda8b8563dd00815af4c8ed18b900.jpg)
Устройство для измерения параметров аппроксимации характеристик нелинейных элементов
О П И С. А Н И Е ()998982 ИЗОБРЕТЕН ИЯ К,АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социаиистичеекин Республик 1 (6!) Дополнительное к авт. санд-ву(5l jN, Кл.. Q 01 Р 31/26 (22) Заявлено 21.09.81 (2 I ) 3337809/18-21 с присоединением заявки М (23)ПрноригетГмудвретвеньм квмнтат . СССР де делам нзвбретнннй н етнрмтнй (5З) А 621.F82..3 (088.8) Опубликовано 23.02;83. Бюллетень Ю...
998982![Устройство для измерения параметров резонансных контуров Устройство для измерения параметров резонансных контуров](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2d0f70d9296bcfaa1ac0500e66b43df5.jpg)
Устройство для измерения параметров резонансных контуров
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ РЕЗОНАНСНЫХ КОНТУРОВ, содержащее частотный модулятор, соединенный с первым генератором, перестраиваемым по частоте, исследуемый контур, соединеннЕлй с амплитудным демодулятором, а также последовательно соединенные второй генератор, перестраиваемый по частоте, блок вычисления отнсжгения частот и, частотомер , отличающееся тем, что, с целью по...
1071972![Устройство для автоматического измерения параметров нелинейных элементов Устройство для автоматического измерения параметров нелинейных элементов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8a01977d41c0496ea182662863b75e7d.jpg)
Устройство для автоматического измерения параметров нелинейных элементов
УСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НЕЛИНЕЙНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ, содержащее блок управления , соединенный с первым входом измерительного блока, блок регистрации экстремума, компаратор, один из входов которого соединен с общей шиной устройства, два синхронных демодулятора, информационные входы которых совместно с вторым входом компаратора и входом блока регистрации экстре...
1132258![Устройство для коррекции характеристик нелинейных элементов Устройство для коррекции характеристик нелинейных элементов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/68cdaa3026edde635368212c449abe89.jpg)
Устройство для коррекции характеристик нелинейных элементов
Изобретение относится к устройствам для коррекции характеристик управления полевых транзисторов, варикапов и других нелинейньпс элементов (НЭ) с повьпленной нелинейностью и температурной стабильностью в широком динамическом диапазоне коррекции и может быть использовано в качестве образцовых, управляемых электронным путем проводимостей при автоматизации измерений и других технолог...
1242862![Устройство для измерения параметров колебательных контуров Устройство для измерения параметров колебательных контуров](https://img.patentdb.ru/i/200x200/4503578d2003e7761fd05882fd184541.jpg)
Устройство для измерения параметров колебательных контуров
Изобретение относится к технике электроиэмерений и может быть использовано для измерения емкости, индуктивности, таюсе угла потерь и др. параметров. Цель изобретения повышение быстродействия работы устройства . Устройство содержит генераторы 1, 24 и 27, перестраиваемые по частоте, преобразователь 2 частоты. СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК 5 А1 (19)SU(ii) (50 4 G 0...
1265650![Устройство для автоматического измерения логарифмического декремента затухания колебательных систем Устройство для автоматического измерения логарифмического декремента затухания колебательных систем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2c9b9d09ce28a776f27582b7ddd4a833.jpg)
Устройство для автоматического измерения логарифмического декремента затухания колебательных систем
Изобретение относится к электроизмерительной технике. Цель изобретения - повышение быстродействия измерений при исследовании низкодобротных колебательных систем. Устройство содержит блок 2 ударного возбуждения колебаний, блок 3 обработки несущей, синхронные демодуляторы 4 и 5, разрядный блок 6 и формирователь 8 управляющих импульсов. В устройство введены разрядный блок 6, компара...
1322196![Устройство для автоматического измерения параметров колебательных контуров Устройство для автоматического измерения параметров колебательных контуров](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d022a78ffb35ad0f15453cec763bd9ec.jpg)
Устройство для автоматического измерения параметров колебательных контуров
Изобретение может быть использовано для измерения резонансной частоты , добротности и полосы пропускания колебательных контуров (КК), а также измерения емкости, индуктивносг .ти тангенса угла потерь и др. пара- . метров электрических цепей. Устройство содержит ряд сложньпс функциональ- „„SU„„340 52 д11 4 С О! К 27/26 СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИК ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ...
1406525![Устройство для автоматического измерения параметров радиотехнических элементов Устройство для автоматического измерения параметров радиотехнических элементов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/94f643a53fb05786dcd2a3549a6ee7cc.jpg)
Устройство для автоматического измерения параметров радиотехнических элементов
Изобретение относится к области радиоизмерительной техники. Устройство для автоматиче ского измерения параметров радиотехнических элементов содержит измерительньтй блок (В). 1 , клеммы 2 для исследуемого элемента, переключатель 3, корректирующую катушку 4 индуктивности,.источник (И) 5 напряжения смещения, согласующий Б 6, генератор 7 ударного возбуждения, преобразователь (П) 8 ло...
1429051![Устройство для автоматического измерения параметров варикапов Устройство для автоматического измерения параметров варикапов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f202b03a36423d1c8a6ff41a7123c899.jpg)
Устройство для автоматического измерения параметров варикапов
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения активной составляющей проводимости, емкости и добротности варикапов в параллельной схеме замещения, например, при технологическом контроле параметров полупроводниковых приборов и других как нелинейных, так и линейных объектов, а также в подсистемах технической диагностики радиотехнических элемент...
1534414![Устройство для автоматического измерения параметров резонансных контуров Устройство для автоматического измерения параметров резонансных контуров](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9d29ed34abfc08e624775d65981cfaac.jpg)
Устройство для автоматического измерения параметров резонансных контуров
Изобретение относится к автоматизированному измерению параметров резонансных контуров. Целью изобретения является повышение быстродействия. Устройство содержит управляемый по частоте генератор 1, частотный модулятор 2, управляемый аттенюатор 3, клеммы 4 для подключения объекта измерения 5, амплитудный демодулятор 6, блок 7 формирования нормированной характеристики второй производн...
1594447![Автоматическое устройство для измерения параметров радиотехнических элементов Автоматическое устройство для измерения параметров радиотехнических элементов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9a77f72eabc399a49daa1ecbf4a22116.jpg)
Автоматическое устройство для измерения параметров радиотехнических элементов
Изобретение относится к радиоизмерительной технике, предназначено для измерения активной составляющей проводимости, емкости и добротности радиотехнических элементов в параллельной и/или последовательной схемах замещения параметров с повышенной точностью и быстродействием измерений в широком диапазоне рабочих частот и может быть использовано при технологическом контроле параметров...
1628015![Автоматический измеритель параметров радиотехнических элементов и устройств Автоматический измеритель параметров радиотехнических элементов и устройств](https://img.patentdb.ru/i/200x200/06e8e5704e5b7fde4625b08f95613d1a.jpg)
Автоматический измеритель параметров радиотехнических элементов и устройств
Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано для измерения центральной частоты, полосы пропускания и/или добротности радиотехнических элементов и устройств, а также для измерения емкости, индуктивности, тангенса угла потерь и др. параметров. Цель изобретения - расширение частотного диапазона измерений. Устройство содержит линейно управляемый по час...
1681278![Устройство для автоматического измерения дифференциальных параметров нелинейных элементов Устройство для автоматического измерения дифференциальных параметров нелинейных элементов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ea7a6c8bb1e490eb58b640e2af6b4f18.jpg)
Устройство для автоматического измерения дифференциальных параметров нелинейных элементов
Изобретение относится к радиоизмерительной технике, предназначено для измерения активной составляющей проводимости (сопротивления потерь), емкости и добротности различных нелинейных и линейных элементов в схемах замещения параметров. Цель изобретения - повышение точности и быстродействия измерений без сокращения диапазона рабочих частот. Устройство для автоматического измерения д...
1698829![Имитатор отрицательной индуктивности Имитатор отрицательной индуктивности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6cc5e2f3d643538a7db598868dfe58c0.jpg)
Имитатор отрицательной индуктивности
Изобретение относится к радиоэлектронике и может быть использовано для имитирования отрицательной индуктивности в селективных устройствах микроэлектроники. Цель изобретения - повышение стабильности отрицательной индуктивности. Имитатор отрицательной индуктивности содержит первый 1 и второй 2 операционные усилители , первый 3 и второй 4 конденсаторы, первый 5, второй 6 и третий 7...
1739480