ШУВАЛОВ ЛЕВ АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретатель ШУВАЛОВ ЛЕВ АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:
Нелинейный электрический конденсатор
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических @отблик (11) 527751 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 28 02.75. (21) 2109245/26 — 21 {5l) М. Кл,е Н 01 6 7/06 с присоединением заявки №вЂ” Государственный комитет Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий (23) Приоритет— (43) Опубликовано 05.09.76. Бюллетень №...
527751Способ определения координаты теплового потока
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ < «54587 Союз Советских Социалистическим Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свпд-ву— (22) Заявлено 11.06.75 (21) 2146100/25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (43) Опубликовано 05.02.77. Бюллетень М 5 (45) Дата опубликования описания 10.03.77 (51) М. К ч С«01 1 5 26 Государственный комитет Совета 1«1икнстров С...
545879Сегнетоэлектрическая оптическая дифракционная решетка
Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 100681 (21) 3299388/18-10 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет— РФ М Кд з G .02 В 5/18 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий Р4 % 535.853, .31(088.8) Опубликовано 3011 82. Бюллетень ¹ 44 Дата опубликования описания 30,11.82 (Т.И.Иванова, В.М.Рудяк и Л...
978093Способ изготовления сегнетоэлектрических элементов памяти
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ ПАМЯТИ, основанный на нанесении на плоскопараллельную пластину сегнетоэлектрического кристалла полос проводящего материала и последующем разделении пластины на подобные части, отличающийся тем, что, с целью повышения качества изготовь ления элементов, нанесение на плоскопаралллельную пластину сегнетоэлектрического кристалла полос...
1133620Способ формирования регулярной структуры сегнетоэлектрических доменов
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ РЕГУЛЯРНОЙ СТРУКТУРЫ СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ДОМЕНОВ, включающий воздействие на пластину полярного среза сегнетоэлектрического монокристалла знакопеременными импульсами локально неоднородного по величине в плоскости полярных граней пластины электрического поля, коллинеарного направлению полярной оси монокристалла, отличающийся тем, что, с целью повьшения точности...
1185291Способ определения концентрации точечных дефектов с известным зарядом в сегнетоэлектрических кристаллах
Использование: физико-химический анализ твердых тел„ Сущность изобретения: измеряют зависимость тангенса угла низкочастотных диэлектрических потерь от амплитуды измерительного электрического поля, находят на кривой пороговое электрическое поле и определяют искомую величину по значению порогового.поля и термодинамическим параметрам сегНетоэлектрика 2 ил0 (5()5 г, 01 N 27/24 М...
1790762