СОРОКИН ВЛАДИМИР БОРИСОВИЧ
Изобретатель СОРОКИН ВЛАДИМИР БОРИСОВИЧ является автором следующих патентов:

Спектрометр для измерения флюктуации смещения спектральной линии
ОП ИСАНИЕ И ЗОБРЕТЕ Н ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (11) 543837 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено24.11.75 (21) 2192089/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 25.01.77.Бюллетень № 3 (45) Дата опубликования описания08.04.77 (51) М. Кл.е 501 1 3/00 Государственный комитет Совета Министроа СССР п...
543837
Способ контроля плотности материалов
Союз Советскнк Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 748129 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (51)М. Кл. G 01 В 15/02 (22) Заявлено 09. 06. 78 (21) 2626339/25-28 с присоединением заявки HP (23) Приоритет Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий Опубликовано 15.0780. Бюллетень М Дата опубликования описания 15 . 07. 80...
748129
Устройство для измерения расхода среды
Изобретение относится к контрольн6-тизмерительной технике. Целью изобретения является упрощение конструкции устройства путем исключения узла формирования жидкостногопоршня, а также расширение эксплуатационных возможностей путем измерения утечки жидкости. Трубка 6 U-образно } формы имеет сужение в месте соединения с входной частью трубки 1, и обе трубки I и 6 имеют расширение в ме...
1415100
Способ контроля плотности материалов
Изобретение относится к измерительной технике, к способам контроля плотности твердых тел с помощью электронных пучков и может быть использовано в исследовательской работе и на производстве. Целью изобретения является увеличение глубины контроля. Она достигается использованием вторичного тормозного излучения для определения плотности материала. На поверхности контролируемого матери...
1525451
Способ контроля толщины покрытий
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам измерения толщины покрытий с помощью электронных пучков. Целью изобретения является повышение точности контроля толщины покрытий при малом различии атомных номеров материалов покрытия и основы. Она достигается применением относительных измерений. Способ реализуется следующим образом. На поверхности контролируемого...
1525452