ЕВГРАФОВ АЛЕКСАНДР АНДРЕЕВИЧ

  О П И С А Н И Е в) 545966 ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 18.10.73 (21) 1964642/25 с присоединением заявки Ме— (23) Приоритет— (43) Опубликовано 05.02.77. Бюллетень No 5 (45) Дата опубликования описания 28.03.77 (51) М.Кл G 01 N 23/20 G 01п 23 22 Государственный комитет...

  ОП ИСА ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистических Республик (11) 616717 К АВТОРСКОМУ СВИДИТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлеио11.01.77 (21)2442221/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет (51) М. Кл. Н 05 Cj 1/02 G 0 1 Я 23/207 Государственный комнтет Совета й1нннстров СССР по делам нэобретеннй н отнрытнй (43) Опубликоваио25.07.78.Бюллетен...

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (F11777562 Союз Соеетских СоциалистйЧескйх Республик (61) Дополиительиое к авт. свид-ву (22) Заявлено 05.07.78 (21) 2636967/18-25 с присоединением заявки № (51) М, Кл.з G 01N 23,/20 Государственный комитет (23) Приоритет СССР по ленам изобретений и открытий (43) Опубликовано 07.11.80. Бюллетень № 41 (45) Дата опубликования опи...

  O П И С А Н И Е ()851211 ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 12.07.79 (21) 2794771/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М.К . G 01 N 23/20 Гасударственные кемнтет СССР но делам нзвбретеннй н втхрмтнй Опубликовано 30.07.81. Бюллетень №28 Дата опубликовани...

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советскнк C NShNCTNQOCKNX Рес убпнм (и 853834 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свмд-ву— (22) Заявлено 08L1079 (21) 2825285/18-25 с присоединением заявки Ио (23) Приоритет Опубликовано р7р881 Бюллетень HP 29 (51)М. Кл з Н 05 G 1/00 Н 01 J 35/00 Госудврствеииый комитет СССР ио делам изобретений и открытий . (53) УДК 621 ° 386 (...

  СПОСОБ РЕНТГЕНОВСКОГО ДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКОГО АН-АЛИЗА ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ С АКСИАЛЬНОЙ ТЕКСТУРОЙ, включающий установку плоского образца в держателе гениометра осью текстуры перпендикулярно к гониометрической оси, облучение образца пучком рентгеновских лучей, регистрацию дифрагированного излучения детектором, синхронизованное вращение детектора и держателя образца относител...

  Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению, а точнее к устройствам контроля кристаллографических параметров монокристаллов, используемых в электротехнической и химической промышленности. Изобретение позволяет исследовать цилиндрические образцы разных размеров без смены элементов конструкции и без переюстировки установки. Устройство состоит из установочного стола 1, за...

  С целью повышения экспрессности и упрощения способа определения толщины покрытия на кристаллической подложке с использованием дифракции рентгеновских лучей предложено осуществить измерение брэгговского угла дифракции любого отражения для исследования образца и эталона, который выполняется из материала подложки. Толщину покрытия определяют по разности измеренных брэгговских углов...

  Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и может быть использовано в рентгеновских дифрактометрах различного назначения. Целью изобретения является повышение стабильности за счет увеличения жесткости конструкции и упрощения процесса юстировки. В рентгеновском дифрактомере к кожуху источника рентгеновского излучения крепится корпус монохроматора. Данный узел я...

  Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению, и, в частности, к средствам рентгенографического контроля монокристаллов. Цель изобретения - повышение точности изготовления кристаллографически ориентированного базового среза на цилиндрическом монокристалле. Держатель содержит основание 1 с торцовой опорой 3 в виде шарика, стойку 2 с базовой плоскостью 11, зажимное приспосо...