Архитектура встроенного самотестирования запоминающего устройства, имеющая распределенное интерпретирование команд и обобщенный протокол команд
Изобретение относится к архитектурам встроенного самотестирования для использования в электронных устройствах. Техническим результатом является тестирование множества распределенных модулей запоминающего устройства, имеющих различные требования распределения во времени и различные физические характеристики. Архитектура встроенного самотестирования (BIST) имеет распределенное интерпретирование алго...
