H01J37/256 - с использованием сканирующих лучей

Прибор для автоматического вб1числения функции плотности распределения л1икрообъектов по величине ихдиаметра

Сева Соеетекиа Сокиалистическиа ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Респуйлик Завп имое от авт. азпдетельства ¹â€” Заявлено 03.VI.1969 (№ 1334551/26-25) M.Êë. G 06f 5/00 с присоединением заявки № Комитет оо делам иаооретений и открытий при Совете Министров СССР ПриоритетвЂ” Опубликовано 26.1.1972. Бюллетень ¹ 5 Дата опубликования описания 12.1V.1972 УДК 681.14...

327470

Растровый оже-микроанализатор

1. РАСТРОВЫЙ ОЖЕ-МИКРОАНАЛИЗАТОР , содержащий соединенные между собой по корпусу колонну с электромагнитной формирующей системой и камеру образцов, отличающийся тем, что, с целью увеличения предельного разрежения за счет увеличения допустимой температуры прогрева камеры образцов, внутренние полости колонны и камеры образцов разделены металлической мембраной. 2. Оже-микроанализаТо...

1173463

Способ подготовки диэлектрических образцов для исследований на растровом электронном микроскопе

Заявленный способ относится к области научных и технических исследований микро- и наноструктуры диэлектрических органических и неорганических объектов методами растровой электронной микроскопии. Способ подготовки диэлектрического образца для исследования на растровом электронном микроскопе его микро- и наноструктуры включает нанесение токопроводящего покрытия на поверхность образца и обеспечение...

2557179

H01J37/256 - с использованием сканирующих лучей

Патенты в этой категории