PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1568000

Устройство для измерения коэффициентов матрицы рассеяния 2n- полюсника

Устройство для измерения коэффициентов матрицы рассеяния 2n- полюсника (патент 1568000)