ДЖАПАН САЙЕНС ЭНД ТЕКНОЛОДЖИ ЭЙДЖЕНСИ (JP)
ДЖАПАН САЙЕНС ЭНД ТЕКНОЛОДЖИ ЭЙДЖЕНСИ (JP) является правообладателем следующих патентов:
![Способ и устройство для измерения частоты колебаний мультикантилевера Способ и устройство для измерения частоты колебаний мультикантилевера](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3d123b5159a54c6bc89cefe5845a8416.jpg)
Способ и устройство для измерения частоты колебаний мультикантилевера
Изобретение относится к способам и устройствам для измерения частоты колебаний мультикантилевера. Способ, в котором множество кантилеверов, имеющих различные длины и различные собственные частоты и расположенных группами по радиусам от спирального основания, освещают общим лазерным возбуждающим пятном. Одновременно возбуждают собственные колебания множества кантилеверов постоянным световым возбужд...
2313141![Новые фосфонамиды, способ их получения и их применение Новые фосфонамиды, способ их получения и их применение](/img/empty.gif)
Новые фосфонамиды, способ их получения и их применение
Изобретение относится к новым агентам экстракции иона редкоземельного металла, содержащим фосфонамидное соединение, представленное общей формулой [1](где R1 является арильной группой, аралкильной группой, при условии, что каждая группа может иметь заместитель, выбранный из алкоксигрупп; R2 является алкильной группой, алкенильной группой, арильной группой, аралкильной группой, при условии, что кажд...
2314314![Зонд для сканирующего зондового микроскопа и способ его изготовления Зонд для сканирующего зондового микроскопа и способ его изготовления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/64aaed5c16c51a5ccb57195e4f2e123d.jpg)
Зонд для сканирующего зондового микроскопа и способ его изготовления
Изобретение относится к конструкции зонда для сканирующего зондового микроскопа. Предусмотрены зонд для сканирующего зондового микроскопа и способ изготовления зонда, которые могут выполнять точные измерения без контактирования основания кантилевера с измеряемым объектом и без скрывания объекта основанием зонда. Зонд для сканирующего зондового микроскопа включает основание, опорный кантилевер, гор...
2320034![Трехмерная структура, образованная тонкими кремниевыми проволоками, способ ее изготовления и устройство, содержащее ее Трехмерная структура, образованная тонкими кремниевыми проволоками, способ ее изготовления и устройство, содержащее ее](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7c94a716c901af280aafd2dadc0c6944.jpg)
Трехмерная структура, образованная тонкими кремниевыми проволоками, способ ее изготовления и устройство, содержащее ее
Изобретение применимо к сканирующему зондовому микроскопу, измерителю колебаний, анализатору поверхностей и граничных поверхностей электрической схемы, детектору массы, сети электронных схем, фильтру для захвата вещества, а также к измерениям температуры, распределению температуры в электронных устройствах и распределению температуры и метаболизма в биологических материалах. Техническим результато...
2320976![Зонд для зондового микроскопа с использованием прозрачной подложки, способ изготовления зонда и устройство зондового микроскопа Зонд для зондового микроскопа с использованием прозрачной подложки, способ изготовления зонда и устройство зондового микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f2062376e64e307df78c1e1f6f84678c.jpg)
Зонд для зондового микроскопа с использованием прозрачной подложки, способ изготовления зонда и устройство зондового микроскопа
Изобретение относится к зонду для зондового микроскопа с использованием прозрачной подложки, в котором кантилевер может быть оптически возбужден и измерен, и к способу изготовления зонда, и к зондовому устройству микроскопа. Зондовый микроскоп имеет зонд, снабженный одним или несколькими кантилеверами (1202, 1204) на одной поверхности каждой из прозрачных подложек (1201, 1203), при этом прозрачные...
2321084![Использующие матрицу с нанометрическими зазорами способ и устройство для захвата, обнаружения и индентификации вещества Использующие матрицу с нанометрическими зазорами способ и устройство для захвата, обнаружения и индентификации вещества](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d3398e0c427a87baa839418eaa3dff2f.jpg)
Использующие матрицу с нанометрическими зазорами способ и устройство для захвата, обнаружения и индентификации вещества
Изобретение относится к обнаружению и идентификации веществ с чувствительностью к отдельным молекулам. Согласно изобретению используют консольную матрицу и подложку. Консольная матрица содержит консоли, каждая из которых имеет зонд. Подложка расположена под консольной матрицей. Подложка имеет поверхности, соответствующие зонду каждой консоли. Оконечности зондов консолей расположены с нанометрическ...
2330262![Высокочувствительные способ и устройство для измерения силы/массы с использованием системы фазовой автоподстройки частоты Высокочувствительные способ и устройство для измерения силы/массы с использованием системы фазовой автоподстройки частоты](https://img.patentdb.ru/i/200x200/bcefbedca00eb9e0ea9cd6ca20c85808.jpg)
Высокочувствительные способ и устройство для измерения силы/массы с использованием системы фазовой автоподстройки частоты
Изобретение относится к высокочувствительным способу и устройству измерения силы/массы с использованием системы фазовой автоподстройки частоты. Устройство включает в себя механический вибратор, регулятор фазы, схему преобразования в двоичную форму для детектирования фазы колебательного сигнала колебательного контура. Гетеродин, характеризующийся низким уровнем фазового шума и высокой чистотой. Фаз...
2334204![Способ и устройство точного перемещения при высоком нагрузочном сопротивлении Способ и устройство точного перемещения при высоком нагрузочном сопротивлении](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8824e6f6bb4cc5ff73660c9f18413020.jpg)
Способ и устройство точного перемещения при высоком нагрузочном сопротивлении
Изобретение относится к устройствам точного перемещения при высоком нагрузочном сопротивлении. Способ и устройство, в котором объединены пьезоэлектрический элемент, который формирует деформацию сдвига, и клин, или пьезоэлектрический элемент, который также формирует деформацию сдвига. Пьезоэлектрический элемент, который формирует вертикальную деформацию, и подвижное тело могут точно перемещаться в...
2341863![Механический осциллятор и способ его изготовления Механический осциллятор и способ его изготовления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c19eb989c80eb0060ccd09b786e31f58.jpg)
Механический осциллятор и способ его изготовления
Изобретение относится к механическому осциллятору, который определяет начальную точку кантилевера на переднем крае основы и может определять длину кантилевера без зависимости от точности выравнивания и величины травления, и способу изготовления механического осциллятора. Механический осциллятор, полученный посредством обработки пластины, содержит основу, сформированную из подложки, поддерживающе...
2352002![Измерительное устройство с диском-ностителем с кантилеверами лепесткового типа Измерительное устройство с диском-ностителем с кантилеверами лепесткового типа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5089b640393d6ab4a660257f763a5ada.jpg)
Измерительное устройство с диском-ностителем с кантилеверами лепесткового типа
Измерительное устройство содержит дисковидную несущую плату (1), множество кантилеверных матриц (3), расположенных на дисковидной несущей плате (1), с их главными осями, совмещенными с радиальным направлением несущей платы, средство вращения дисковидной несущей платы (1) с кантилеверными матрицами (3), устройство позиционирования кантилеверных матриц (3) и оптическую измерительную головку (7), р...
2353918![Устройство атомно-силовой микроскопии с динамическим режимом Устройство атомно-силовой микроскопии с динамическим режимом](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5d5ef21ebb4338860c587f6c1e502705.jpg)
Устройство атомно-силовой микроскопии с динамическим режимом
Устройство АСМ с динамическим режимом содержит сканнер 3 для выполнения трехмерного относительного сканирования консоли 2 и образца 1; средство 8 для генерации сигнала переменного тока резонансной частоты в моде с колебаниями изгиба консоли 2; средство 9 для возбуждения колебаний изгиба консоли 2 с резонансной частотой; средство 10 для генерации сигнала переменного тока второй частоты, которая ни...
2456622