PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук (RU)

Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук (RU) является правообладателем следующих патентов:

Способ организации структуры кмоп-фотодиода, выполняющего взвешивание входного сигнала

Способ организации структуры кмоп-фотодиода, выполняющего взвешивание входного сигнала

Изобретение относится к области полупроводниковых ИС и может быть использовано при создании аналоговых и цифровых фотоприемных устройств. Сущность изобретения: в способе организации структуры КМОП фотодиода, выполняющего взвешивание входного сигнала, фотодиод организуют в виде совокупности отдельных диффузионных областей - сегментов в подложке противоположного типа проводимости. Все сегменты поп...

2361322