Учреждение Российской академии наук Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (RU)
Учреждение Российской академии наук Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (RU) является правообладателем следующих патентов:

Кмоп-фотоприемный элемент с высоким фактором заполнения
Изобретение может быть использовано для создания фоточувствительных цифровых и аналоговых устройств. КМОП-фотоприемный элемент согласно изобретению содержит фотодиод и транзисторы схемы управления фотодиодом. Фотодиод в соответствии с изобретением формируется из двух слоев: заглубленного низколегированного слоя n-типа (выращивается на исходной подложке р-типа проводимости, на поверхности данного...
2377692
Способ и устройство для создания магнитного поля, локализованного в нанометровой области пространства
Изобретение относится к формированию интенсивного неоднородного магнитного поля в ограниченном пространстве и может быть использовано для эффективных головок записи на магнитные носители с высокой плотностью информации и устройств для переключения спинтронных нанокомпонентов в электронике, повышения пространственного разрешения, чувствительности и функциональных возможностей магнитных сенсорных у...
2447527