Калмыков Эрнст Алексеевич (RU)

Использование: для определения остаточных и рабочих поверхностных напряжений поликристаллических материалов и параметров их кристаллической решетки. Сущность: облучают исследуемый объект узким пучком радиационного или рентгеновского излучения, выделяют из потока отраженных квантов М участков, регистрируют кванты, попавшие в каждый участок за период облучения, формируют картину распределения отраж...