PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Закрытое акционерное общество "Нанотехнология МДТ" (RU)

Закрытое акционерное общество "Нанотехнология МДТ" (RU) является правообладателем следующих патентов:

Способ ускорения измерения рельефа поверхности для сканирующего зондового микроскопа

Способ ускорения измерения рельефа поверхности для сканирующего зондового микроскопа

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, преимущественно атомно-силовой микроскопии, и может быть использовано для измерений размеров нанообъектов и рельефа поверхностей, имеющих перепад высот наноразмера. Сущность изобретения заключается в том, что в способе измерения рельефа и свойств поверхности для сканирующего зондового микроскопа сканирование осуществляют в направле...

2428655

Электрический разъемный вакуумный соединитель для герметизации физических приборов

Электрический разъемный вакуумный соединитель для герметизации физических приборов

Изобретение может быть использовано как вакуумный электрический ввод, а также для герметизации физических приборов с негерметичными стандартными многоштырьковыми разъемами. В электрическом разъемном вакуумном соединителе первый и третий разъем, установленные на плату с токоведущими дорожками, образуют переходную плату, которая жестко установлена на стойках внутри фланца. По всему периметру первой...

2452065

Способ выделения локальных объектов на цифровых изображениях поверхности

Способ выделения локальных объектов на цифровых изображениях поверхности

Изобретение относится к цифровой обработке изображений, полученных методами сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ-изображений). Техническим результатом является улучшение качества идентификации частиц и получение более полной и достоверной информации о геометрических характеристиках частиц, что приводит к повышению достоверности измерений распределений частиц по характерным параметрам. Разработан...

2459251

Способ изготовления коллоидного зондового датчика для атомно-силового микроскопа

Способ изготовления коллоидного зондового датчика для атомно-силового микроскопа

Изобретение относится к области приборостроения, преимущественно к измерительной технике. Сущность изобретения заключается в способе изготовления коллоидного зондового датчика, в котором используется атомно-силовой микроскоп (АСМ), и его собственном работоспособном зондовом датчике. Сначала с помощью АСМ производят визуализацию коллоидных частиц, предварительно осажденных на гладкую подложку, и...

2481590