Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет приборостроения и информатики" (RU)
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет приборостроения и информатики" (RU) является правообладателем следующих патентов:
![Способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах Способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b6439b84e8221167e89d4392b4a8c2d2.jpg)
Способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах
Изобретение относится к неразрушающему контролю. Способ выявления подповерхностных дефектов в ферромагнитных объектах заключается в том, что контролируемый объект намагничивают системой намагничивания, возбуждают с помощью вихретокового преобразователя вихревые токи, сканируют поверхность контролируемого объекта, регистрируют в процессе сканирования изменения вносимых в вихретоковый преобразоват...
2442151