КВАЛКОММ МЕМС ТЕКНОЛОДЖИС, ИНК. (US)

Оптическое электромеханическое устройство содержит проводящий оптический поглотитель, сформированный над подложкой, по меньшей мере одну поддерживающую структуру, которая сформирована над подложкой, проводящий деформируемый слой, сформированный поверх указанной по меньшей мере одной поддерживающей структурой, расположенный на расстоянии от проводящего оптического поглотителя и выполненный с возмо...

Микроэлектромеханическое устройство (800) содержит подложку (20), содержащую верхнюю поверхность (88), подвижный элемент (810), расположенный сверху подложки (20), и активирующий электрод (82). Подвижный элемент (810) содержит деформируемый слой (34) и отражающий элемент (814), механически соединенный с деформируемым слоем (34). Отражающий элемент (814) содержит отражающую поверхность (92). Актив...

Световод содержит покрывающий слой и световодную пластину, имеющую верхнюю и нижнюю поверхности и содержащую элементы поверхностного рельефа, проходящие в указанной световодной пластине. Покрывающий слой и световодная пластина выполнены с возможностью проводить свет, при этом покрывающий слой расположен рядом с элементами поверхностного рельефа так, что между покрывающим слоем и световодной плас...

Способ изготовления по меньшей мере двух типов электромеханических устройств, имеющих различные раскрепленные состояния после удаления временного слоя, состоит в следующем. Берут подложку, по меньшей мере на части подложки формируют первый электропроводящий слой. По меньшей мере на части первого электропроводящего слоя формируют первый временный слой. Поверх первого временного слоя формируют эле...

Предложено фотогальваническое устройство, содержащее первый активный слой, выполненный с возможностью выработки электрического сигнала в результате поглощения света с первой длиной волны первым активным слоем, второй активный слой, выполненный с возможностью выработки электрического сигнала в результате поглощения света со второй длиной волны вторым активным слоем, первый оптический фильтр, расп...

Заявленная группа изобретений относится к измерительной технике, в частности к способу и устройству для измерения пороговых напряжений в устройствах МЭМС. Способ измерения порогового напряжения устройства на основе микроэлектромеханических систем, согласно которому к устройству прикладывают перепады напряжения и измеряют количество заряда, переданного на устройство при приложении по меньшей мере...

Изобретение относится к вычислительной технике, и более конкретно к дисплеям, которые имеют квантованные характеристики отображения для каждого пикселя. Техническим результатом является улучшение качества изображения для бистабильных дисплеев. Способ отображения первого изображения на дисплее включает в себя этап создания первого варианта первого изображения в соответствии с первым шаблоном прос...

Изобретение относится к микроэлектромеханическим системам дисплейных устройств. Техническим результатом является повышение эффективности определения рабочей характеристики дисплейного устройства за счет измерения электрического отклика этого устройства в ответ на сигнал, поданный через электроды этого устройства. Устройство содержит матрицу интерферометрических модуляторов, схему управления, под...

Изобретение относится к средствам калибровки дисплейного устройства. Техническим результатом является обеспечение калибровки дисплейного элемента в ответ на поданный сигнал. В способе с помощью схемы управления подают управляющий сигнал с первым уровнем между первым и вторым электродами дисплейного устройства, линейно изменяют управляющий сигнал от первого уровня до второго уровня, отслеживают...