PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Фертиков Валерий Иванович (RU)

Фертиков Валерий Иванович (RU) является правообладателем следующих патентов:

Способ контроля структуры титанового сплава

Способ контроля структуры титанового сплава

Изобретение относится к области материаловедения и может быть использовано при оценке влияния структуры титановых сплавов на аналитический сигнал при проведении оптического эмиссионного спектрального анализа элементного состава. Сущность: измеряют интенсивности химических элементов исходного образца сплава эмиссионно-спектральным методом. Подвергают образец сплава термообработке в течение 30 мин...

2486494

Способ контроля структуры стали

Способ контроля структуры стали

Изобретение относится к области материаловедения и может быть использовано при оценке влияния структуры стали на аналитический сигнал при проведении эмиссионного спектрального анализа элементного состава. способ включает измерение интенсивностей входящих в состав стали химических элементов эмиссионно-спектральным методом на исходных и термообработанных образцах, что позволяет обеспечить высоку...

2518292

Способ контроля структуры магниевого сплава

Способ контроля структуры магниевого сплава

Изобретение относится к области материаловедения и может быть использовано при оценке влияния структуры магниевого сплава на аналитический сигнал. Способ контроля структурных изменений в магниевом сплаве включает измерение интенсивностей входящих в состав магниевого сплава химических элементов эмиссионно-спектральным методом на исходных и термообработанных в специальных контейнерах образцах, чт...

2558632

Способ контроля структуры никелевого сплава

Способ контроля структуры никелевого сплава

Изобретение относится к области материаловедения и может быть использовано при оценке влияния структуры никелевого сплава на аналитический сигнал при проведении эмиссионного спектрального анализа элементного состава. Способ включает измерение интенсивностей входящих в состав никелевого сплава химических элементов эмиссионно-спектральным методом на исходных и термообработанных образцах, что позво...

2581077