Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики микроструктур Российской академии наук (ИФМ РАН) (RU)
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики микроструктур Российской академии наук (ИФМ РАН) (RU) является правообладателем следующих патентов:
![Полупроводниковый лазер (варианты) Полупроводниковый лазер (варианты)](https://img.patentdb.ru/i/200x200/78e14317f735fa9ed68703258dbedc54.jpg)
Полупроводниковый лазер (варианты)
Предложенная группа изобретений относится к полупроводниковым лазерам. Полупроводниковый лазер включает гетероструктуру, выращенную на подложке, содержащей буферный слой, покровный слой, контактный слой, активную область с активной квантовой ямой либо с активными квантовыми ямами, выполненную в p-n- и/или в p-i-n- переходе, сформированном в окружающих ее слоях полупроводника, с показателем прело...
2529450![Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения и источник двух сферических эталонных волн для него Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения и источник двух сферических эталонных волн для него](https://img.patentdb.ru/i/200x200/cfa7e5815d90c30f3f86469db0ca1fe4.jpg)
Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения и источник двух сферических эталонных волн для него
Изобретение относится к технической физике, в частности к инструментам для исследования и измерения оптических элементов и систем. Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения содержит источник низкокогерентного света, делителя света, к выходам которого подключены две части оптоволокна, функцию средства для перенаправления света от исследуемого объекта на регистратор выполняет...
2547346