Общество с ограниченной ответственностью "СНОТРА" (RU)

Способ формирования наноразмерных структур предназначен для получения полосок тонких пленок наноразмерной ширины с целью их исследования и формирования элементов наноэлектромеханических систем (НЭМС). Сущность изобретения заключается в том, что в способе формирования наноразмерных структур, включающем получение заготовок тонких пленок и выделение из них полосок тонких пленок, по меньшей мере, о...

Изобретение относится к области нанотехнологий и может быть использовано для исследования образцов, например биоматериалов и изделий медицинского назначения, методами сканирующей зондовой микроскопии, включая исследование внутренних пор зондом сканирующего зондового микроскопа (СЗМ). Для исследования трехмерных структур выполняют срез образца трехмерной структуры ножом и исследование срезанной п...

Изобретение относится к области измерений и может быть использовано для проведения измерений объектов при постоянном контроле внешних условий. Многофункциональный анализатор содержит установочную платформу, сопряженную с держателем объекта средствами соединения и включающую активный модуль с первым активным элементом, выполненным в виде сканирующего зондового микроскопа, и вторым активным элемен...

Изобретение относится к области исследования биоматериалов и тканевой инженерии, а именно к способу получения модифицированных альгинатных микросфер, включающему децеллюляризацию печени, ее механическое фрагментирование и дальнейшее механическое измельчение с получением микрочастиц децеллюляризированной печени, которые закрепляют путем ковалентного связывания на предварительно полученных альгинатн...

Изобретение предназначено для исследования и модификации поверхности измеряемых объектов с помощью источников излучения. Сканирующее устройство локального воздействия включает образец (1) с первой (2) и второй поверхностями (3), зонд (4) с острием (5), закрепленный в модуле зонда (7), сканер (8), первый модуль перемещения (9) и блок управления (10). Сканер (8) и первый модуль перемещения (9) уста...

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к сканирующим зондовым микроскопам, адаптированным для измерения поверхности образца, полученной после механической модификации этой поверхности. Сущность изобретения заключается в том, что сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности образца, содержит модуль опор 46, установленный на основании 1...