БРУКЕР НАНО, ИНК. (US)
БРУКЕР НАНО, ИНК. (US) является правообладателем следующих патентов:
Способ использования полуконтактного режима с фиксированным пиком силы для измерения физических свойств образца
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии. Согласно способу работы сканирующего зондового микроскопа генерируют относительное периодическое перемещение между зондом и образцом, детектируют перемещение зонда, восстанавливают из продетектированного перемещения зонда мгновенную силу между зондом и образцом при взаимодействии зонда и образца, определяют интересующую временн...
2571446Сканирующий зондовый микроскоп с компактным сканером
Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии. Сканер содержит корпус сканера, включающего привод и датчик для обнаружения движения сканера. Корпус сканера выполнен с возможностью съема с головки вручную и имеет общий объем менее приблизительно пяти кубических дюймов. При этом корпус имеет первый открытый конец для подключения сканера к свободной концевой части головки, имеющей внешню...
2571449