Григорьев Александр Михайлович (RU)

Изобретение относится к области дефектоскопии кристаллических материалов и может применяться для обнаружения структурных дефектов в кристаллических материалах, в том числе полупроводниковых. При реализации способа обнаружения структурных дефектов в кристаллических материалах из исследуемого кристаллического материала изготавливают образец. Далее освещают образец светом, состоящим из фотонов с энер...