Си Энд Эй КОРПОРЕЙШН (JP)
Си Энд Эй КОРПОРЕЙШН (JP) является правообладателем следующих патентов:
Кристаллический материал, способ изготовления кристалла, детектор излучения, прибор неразрушющего контроля и прибор визуализации
Изобретение относится к технологии получения сцинтилляционного кристаллического материала для детекторов излучения, используемых для приборов позитронно-эмиссионной томографии (ПЭТ), рентгеновской компьютерной томографии (КТ), различных радиметров в области физики высоких энергий, ресурсодобывающих приборов. Кристаллический материал представлен общей химической формулой (RExA1-x-y-sByM's)2+α(Si1-t...
2666445