Федеральное Государственное Унитарное предприятие научно-исследовательский институт измерительных систем им. Ю.Е. Седакова (RU)

Изобретение относится к измерительной технике, предназначено для измерения механических величин - давления, деформаций, перемещений, и может быть использовано в средствах автоматизации контроля технологических процессов сложных технических систем топливоэнергетического комплекса, АЭС, автомобильного и железнодорожного транспорта и других отраслях промышленности. Технический результат: исключение п...

Изобретение относится к гальванопластике и может быть использовано для изготовления элементов антенно-фидерных устройств повышенной сложности. Способ включает нанесение фотолитографического рисунка на алюминиевые оправки П-образной формы, нагревание детали до температуры 100-110°С в течение 20-30 минут, заглубление оправок за счет удаления прокладок из полистирола и наращивание никеля галь...

Изобретение относится к радиоэлектронике и может быть использовано для дистанционного, беспроводного конроля положения и ориентации различных механизмов. Техническим результатом является отсутствие источников энергопитания в месте размещения датчика и исключение кабельной линии связи между датчиком и блоком обработки информационного сигнала. Радиотранспондерный датчик положения и ориентации содерж...

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при построении надежных вычислительно-управляющих систем. Техническим результатом является повышение надежности системы. Устройство содержит схему сравнения, два системных генератора, две схемы начальной установки, два идентичных канала, каждый из которых состоит из процессора, коммутатора, схемы ИЛИ, счетчика сбоев, импульсн...

Изобретение может быть использовано непосредственно на скважинах или на коллекторных участках первичной переработки газоконденсатных или нефтяных промыслов. Устройство содержит встраиваемую в трубопровод трубную секцию с измерительным каналом и измерители: скорости, сечения жидкой фракции, давления, температуры и сечения водной компоненты, подключенные к соответствующим входам вычислительно-управл...

Изобретение относится к области производства полупроводниковых приборов и может быть использовано в технологии для очистки полупроводниковых структур от ростовых и технологических микродефектов. Технический результат: повышение эффективности геттерирующей обработки за счет снижения концентрации микродефектов в полупроводниковых структурах. Сущность изобретения: в способе геттерирующей обработки по...