Тараканов Юрий Васильевич (RU)

Изобретение относится к области неразрушающего контроля (НК) поверхностных слоев токопроводящих материалов (ПСТМ) изделий в процессе их производства и эксплуатации. Технический результат: повышение достоверности выявления дефектов в ПСТМ заданной толщины благодаря использованию в качестве дефектоскопического параметра поверхностного электросопротивления (Rn), измеренного на постоянной базе (l), по...