Шеретов Эрнст Пантелеймонович (RU)
Шеретов Эрнст Пантелеймонович (RU) является правообладателем следующих патентов:
Способ анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка"
Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при создании приборов с высокой разрешающей способностью и скоростью сканирования спектра масс. Способ анализа заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре типа \трехмерная ионная ловушка\ заключается в том, что изменение параметров электрического поля (развертку спектра масс) начинают одновременно с начало...
2260871Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне
Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне относится к гиперболоидной масс-спектроскопии и может быть использован при создании приборов с высоким разрешением и чувствительностью. Способ заключается в том, что ионы вводят в рабочий объем анализатора, захватывают полем, сортируют по удельным зарядам,...
2269179Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс- спектрометре типа "трехмерная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне
Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне относится к гиперболоидной масс-спектроскопии и может быть использован при создании приборов с высоким разрешением и чувствительностью. Способ заключается в том, что ионы вводят в рабочий объем анализатора вблизи радиальной его плоскости, сортируют по удел...
2269180Способ ввода анализируемых ионов в рабочий объем масс-анализатора гиперболоидного масс-спектрометра типа трехмерной ловушки
Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при разработке приборов данного вида с высокой чувствительностью и разрешающей способностью. Способ ввода анализируемых ионов заключается в том, что ионы, образованные вне рабочего объема, вводят в рабочий объем анализатора гиперболоидного масс-спектрометра типа «трехмерная ловушка» вблизи радиальной плоскости чере...
2281580Способ анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка"
Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при создании приборов с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Способ анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа «трехмерная ионная ловушка» заключается в том, что ввод ионов в объем ловушки осуществляют одновременно с изменением параметров электрического поля (амплитуды и частоты). При этом изм...
2308117Способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс)
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано при создании квадрупольных масс-спектрометров пролетного типа с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс) заключается в том, что анализируемые ионы вводят через входной канал в анализа...
2399985Анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, "монополь" и "триполь")
Анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, «монополь», «триполь») относится к области масс-спектрометрии и может быть использован при создании квадрупольных масс-спектрометров пролетного типа с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Анализатор содержит устройство сортировки ионов по удельным зарядам, устройство ввода анализируемых ионов в устройство с...
2447539Анализатор квадрупольного масс-спектрометра пролетного типа с трехмерной фокусировкой
Изобретение относится к области масс-спектрометрии. Анализатор содержит электродную систему и два электрода, ограничивающие по оси z электродную систему, в одном из них выполнены два отверстия: для ввода и вывода анализируемых ионов. При этом значения координат центров отверстий для ввода и для вывода ионов по одноименным координатным осям равны по модулю, но хотя бы одна пара соответствующих зна...
2458428Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах
Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использован при создании аналитических приборов с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Технический результат- повышение разрешающей способности за счет использования областей общей диаграммы стабильности с повышенной эффективностью сортировки...
2557010