Закрытое акционерное общество "Материалы микроэлектроники" (RU)

Изобретение относится к области измерения интенсивности α-излучения и может быть использовано для определения интенсивности α-излучения образцов материалов. Технический результат - повышение чувствительности аппаратуры и ее эффективности за счет устранения влияния на показания прибора α-активности стенок корпуса детектора и образцедержателя, а также неконтролируемых загрязн...