Жаботинский Владимир Александрович (RU)

Изобретение относится к области точного приборостроения и может быть использовано в качестве эталона для определения перемещений и линейных размеров объектов в нанометровом диапазоне. В основу настоящего изобретения была положена задача создания простого устройства, которое позволяло бы осуществлять малые заданные (до долей нанометра) смещения или производить их измерение с такой же точностью в го...

Изобретение относится к способам оптической маркировки изделий с последующей идентификацией марки с целью защиты от подделки и может быть использовано для защиты от копирования банковских документов, пластиковых карт и идентификационных удостоверений и в компьютерной технике с целью предотвращения появления фальсифицированных копий. Технический результат заключается в повышении защищенности о...

Изобретение относится к способам оптической маркировки изделий с последующей идентификацией марки с целью защиты от подделки и может быть использовано для защиты от копирования банковских документов, в частности, пластиковых карт и идентификационных удостоверений, в компьютерной технике - для защиты от несанкционированного доступа к базам данных, для паспортизации произведений искусств с целью...

Изобретение относится к области точного приборостроения и может быть использовано в качестве эталона для определения перемещений и линейных размеров объектов в нанометровом диапазоне, а также для калибровки конфокальных микроскопов и оптических интерферометров. Устройство для прецизионных перемещений содержит два элемента из пьезоматериала. На две противоположные стороны каждого из элементов нане...

Использование: для определения перемещений и линейных размеров объектов в нанометровом диапазоне и для калибровки конфокальных микроскопов и оптических интерферометров. Сущность изобретения заключается в том, что эталон для калибровки оптических приборов содержит размещенный на основании элемент из пьезоэлектрического материала с обратным пьезоэффектом с малым гистерезисом с нанесенными на две его...

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и может быть использовано при исследовании микрорельефа отражающих поверхностей, например, в кристаллографии, метрологии, при изучении высокомолекулярных соединений. Технический результат - повышение пространственной разрешающей способности. Указанный результат достигается тем, что способ исследования микрообъектов включает расщеплен...

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и может быть использовано при исследовании микрорельефа отражающих поверхностей, например, в кристаллографии, метрологии, при изучении высокомолекулярных соединений и т.д. Зонд ближнепольного микроскопа выполнен в виде отрезка световода с заостренным конусообразным концом с нанесенными на наружные поверхности конуса по крайней мере д...