Фотоэлектрическое устройство для контроля качества поверхности деталей

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Класс 421). 12н;

421, 20

Ю 100065 (, l, С Р

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

>.Л . "": =-.".(Л

> . :.,3з <)Т1>>с.г(>3 1

11; с lf l;"",.!. 0.

А. В. Папировский, А. И. Постнов и И, К. Нурище%ко "

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА

ПОВЕРХНОСТИ ДЕТАЛЕЙ

:3нин><си<> 3 и1оли 396! г. aa % К-456/44936l н Л1ииистсрстни ир<>3<ьииз<ии<>сти срсастн связи О.(:Р

11редмстом изобретения является фотоэлсктри )сско(.. устройство для

KofI1ð<>.f3f качества п<>всрхно(ти деталей, н1>пример, заготовок пленочных электрических сопротивлений, путем сравнения контролируемой детали с эталоном.

Предлагаемое устройство позволяет устранить влияние изменений средней От1)ажательной способности детлли (например, вследствие изменений ее окраски) на результаты измерений путем использования исследуемой детали одновременно и в качестве эталона. Для этого в устройстве применены две фотоэлектрииеские п>ловки, включенные по диффсрснцил lbHoH H контролирующие рлзличныс части по(3ерхности детали, <)<. .13(;Ill, >емые разными световыми лучлми Одинаковой иитенсивш>стн, но рл >fff»x поперечных сечений, л имени<>: однл — лучом, который распределяется по всеи поверхности дстлли и пределах сс полног<> телесного угла, а другая — — лучом, площадь поперечного сечения которого соизмерима с величиной наименьшего дефс ктл.

С целью исключения влияния нестабильности световых лучей нл дсйcTl3ll(. ;1ифф(. Р Ill(f f1>.1bH<>fl измс 1п1тельной схемы и устройстве примеH(ll <>;1ИН <)()IIIIIII ИСТО IHlfK СВСТЛ ДЛЯ

Об(. fix фотоэ.з<. ктричсских ГОЛО13ок.

11л чертеже прсдстлвлсна приниипи<1льнля схема устрОйства.

Заготовка зяжимлстся между двумя ро.шками 2 и ведущим барабаном, 3, 11ðè повороте последнего на угол я злгото<>кл делает один оборот вокруг своей оси. Во время вращения заготовки нл нес плдают двл направленных луча и fl. Луч имеет плоцьлдь поп«рс чного сечения, соизмериМУ 1О С ПЛОИСЛДЬЮ ВССй ЗЯ ГОТОВКИ, I3

Отраж<чншя <но часть (луч ) практически нс будет изменяться при наличии дефектов. мсньи)их его по ил<нцлди. 11ри ияли ши >кс дефектов, соизмеримых с поверхностью заготовки, инт(чк и))ность луча будет

ИЗМ<. ИЯТЬСЯ СР)>ВИИТ(IhH<> МСДЛ(.HHO., 1уч !! имеет пл<ицлдь иопсрс<шого сечения тог<»кс порядка, что и наименьший Обияруживлсмый дсфскг поверхности. 11ри 1)р;)иссиня заготовки луч !! непрерывно двигается вдоль сс образующей, прочерчивая по поверхности заготовки соприкасак>щисся полосы при перемещении диафрагмы 4, установленной нл пути.(уч;> //. Огрлжси>!ля >и(ть лу(л 11 (. (С>1 // ) 6У, 1(. т 1)(:>H > Il:Il>1(II>it()(>f 1> .>;>I>Ii(fI,(i(2(.r!(ОТ (!>(1()>IIII(>t 1!()1>с) >хи>>С111 я<11 ????(> l>K II. (!(((>(Oil i.1(>l (O, ИЛОIll<>дь лучи ll (>пр(деля(r рлзр Ill<11!) (цую с(1()соб!(Ость сис темы. .(у<1 >ПОИ спосОбиости, я.,(у)ч //

HI>I< (>ь! с>()(<(>т>рив<>ст пов()) (Hncrf) l;lготовки. Отрижсииые лу ш 1 и П ти>ступают ил соотвстствующис фотоэлементы 5 и б, вкл(оченные по диффсрсицилльной схеме.

Свстовой поток, исходяи(иl(из Одного источника 7, разделяется оптичсской системой 8 на две приблизительно рлвиыс части (лучи 1 и II).

Это иск;иочаст возможиыс погрсигнс>сти из-зл нестабильности работы исТО I(If((<< l CH(.1<1, ТЯК К<1К !(:>МЕI HII(. ИНТ(ИСИ(>ИО(Г(! 11:ЗЛУ 1((!!(и О< >И!СГО II(ГОЧИl>К>1 (l>(ТЛ H(.,>(И(Т ИЗ>>>Е(!ЕIIIIH П 1(IPII21(fill>I f1ÿ ВЫХОДЕ (1>01 О)) 1СМЕИТОБ. ! (с()!(Од пОст) п,(0((((51 импульсов

Определяется скоростью движения диафрагмы 4. Одна часть этого периода соответствует времени нахождения луча П нл заготовке, другая— времени От схода до нового поступления луча 11 ия заготовку. Среднее значение напряжения импульсов рав

«о половине напряжения питания фотоэлементов (при равенстве разделения световых потоков источника между лучами I и I/). Отдельные выбросы иа импульсах соответствуют неоднородностям поверхности заготовок. Управляющий прибор автомата должен Отпр(>влять заготовку в бряк, если длительность выброса и его амплитуда (независимо от полярности) превосходят заданные значения.

Заготовки из дозирующего бункера 9 через центробежный питатель

10 и электромагнитный укладыватель

11 подаются на барабан 3 через раздвижные ролики 2. При повороте барабана 3 ня угол а происходит Монтро.(b .1(>! Ото!>ки, I> Il f>f(,(лльнс((и(л( (if><> lf((lIIIlf 6;1));>(> Оl(<1 iioii??????(.1 11 ???????????? >м и трлиспорти)Р))стс(! j((1. Il)(ll(. . 1;(л(! .1>1((>то>>ки 6!РЯ(с>>вяиия>1, 1!> ко времени ес подхода к люку 13 после:пшй открь(вястся управля!ощим прибором, и заготовка (>тводится в тару для брака. При отсутствии дефектов л!Ок 13 Остается закрытым, злготовка транспортируется до открытого .дюка 14 и по рукаву 15 отводится в тару для годных изделий ((ред)(ет изобретения

1. ФотоэлсKTpif÷oñêîñ устройство для контроля качества поверхности деталей, например, заготовок плеНо п(ых электрических соиротивлешш, ио методу сравнения контролируемой дстл. (и с эталоном, о т л и ч и10 щ с с с я тем, что, с целью устранения влияния изменений средней отражательной способности детали (например, вследствие изменений ее .>краски) HQ результаты измерений путем использования исследуемой детали одновременно и в качестве эталона, применены две фотоэлектрические головки, включенные по дифференциальной схеме и контролирующие различные части поверхности детали, освещаемые разными световыми лучами одинаковой интенсивности, но разных поперечнь(х сечений, а именно: одил лучом, который распределяется по всей поверхности детали в пределах ее полного телесного угла, а другая лучом, площадь которого соизмерима с величиной наименьшего дефекта.

2. В устройстве по и. 1 применение одного общего для обеих фотоэлектрических головок источника света с целью исключения влияния нестабильности световых лучей на действие дифференциальной измерительной схемы. № 100065