Способ определения качества обработки стеклянной шлифованной поверхности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Класс 42Ь, 1200

N 102321

СС 3P

БРЕТЕНИЯ

Г. М. Городинский

СПОСОЬ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ОБРАЬОТКИ СТЕКЛЯННОЙ

ШЛИФОВАННОЙ ПОВЕРХНОСТИ

За11влено 8 октября 1953 г. аа № 07880/451440

Иргд31стом изобретения является спогоб определения качества стгклянной шлифованной поверхности, особенность которого закл1очается в том, что на исследусмуlо поверхность направляют скользящий по поверхности пучок световых лучей и по отношению спектральных коэфФициентов отражения этих лучей от исследуемой и эталонной noBOpxHOGTn судят о средней высоте неровностей поверхности.

Способ основан на изменении спектрального состава света, отражаемого от матовых стеклянных поверхностей.

Из11грение средней высоты микронеровностей производится, например, в инфракрасных лучах при больших (76 — 86) углах падения лучей иа исследуемую повсрхнос.ть.

Опти 83ская схема прибора для осуществления предлагаемого способа изображена на чертеже.. Приоор. вкл1очагт коллиматор (А) и приемнос устройство (Б).

Коллиматор состоит из источника света (1), расположенного в фокусе объектива (2), и прямоугогн ной призмы (3), наклоненной под углом 3 к горизонтальной плоскости для обеспечения заданного угла падения лучей света в 84 . Перед объективом (2) рзсположгна ирисоВ11Я ДИ11111РЗГМ11 (!) ДЛ3(И.ЗМГИСИ11Я 13Сличины иадзлощ< 1з1 из исследуемую поверхность эигрггти ff ñf;orо потока излучгиия. Ili ч11к cllcTll, Выходящий из коллимзтора, пада,т на шлифованную (исследуемую) иовсрхно Tl, а отраженные OT исо лучи ио1гадают на прямоугольную призму (5), также наклоненную Tfolf углом 3 к горизонтальной плоскости, и собираются в фокусе объектива (G) lta диафрагме (7), за которой расположены двояковоп1утая линза (8) и сернисто-серебряный фотоэлемент (9), соединенный со стрелочным гальвзномстром (10). Для исключения рассеянного света между источником света (1) If объективом (2), объективом (6) и диафрагмой (7) расположено несколько поперечных диафрагм.

Инфракрасный светофильтр (11) служит для выделения участка спектра. 11cTOчник света — лампа накаливания — питается от аккумуляторов или другого стзоилизированного источника тока.

11ачгство шлифованной стеклянной поверхности может определяться тремя способами: 1) по грздуировочной кривой, 2) путем сравнения исследуемой иовгрхности с образцовой и 3) нспогргдств< иным отсчетом средней высоты микронеровностсй по шкале гальвзномстрз, заранее проградуированной по тз13и1ровзн1п,1м образцам.

Предмcт Ifзобретги и Jt

Способ определения гзчсства оорзботки стеклянной шлифованной повгрхности, отлича1ощийся тем, что, r, целью измгргиил срсдигй высоты миц10игро13ногтей, из исслсдугму10 ио13грх1311сть изир1113л1пот скользящий пучок световых лучей, угол падения которых 11лизок к

00, и ио отиошени10 спектральных коэффициентов отражения этих лучей от йсследуомой1 и эталбнной повс1рхиости су- дят о средней высоте микронеровностей.

Отв. редактор И. В, Макаров

Н59!75 от 17/111 1956 r. Стандартгиз. Объем 0,125 и. л Тираж 2500. Цена 25 кои.

Ти воср:н)>ия ивд-ва «Московская правда», Потаповский пер., 3. Зак. 1459