Электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов

Электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПРОТЯЖЕННЫХ ОБЪЕКТОВ по авт.св. 868549, отличающийся тем,что, с целью повышения надежности контроля при .переменной скорости контролируемого объекта, он снабжен вторым амплитудным селектором, подключенным к выходу амплитудно-фазового детектора и последовательно соединенными источником тока ключом, формирователем сброса и конденсаторсмл, подключенным к выходу ключа, управляющий вход формирователя сброса соединен с ВЫХОДСХ4 формирователя строб-импульса , а реэистрр выполнен регулируемым,Q к входу управления которого подклю- S чен выход ключа.

О{)ЮЭ СОВЕТСКИХ

СОИЦ

РЕСПУБЛИК

М56 6 01 N 27 90 (2

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЭОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЖэСТВУ (61) 868549 (21) 3414736/25-28 (22) 30.03 82 (46) 07.07..83. Бюл. Ф 25

{72) В.Ф.Булгаков (71) Научно-исследовательский институт электронной интроскопии при. Томском ордена Октябрьской Революции и ордена Трудового Красного Знамени политехвнческом институте им. С.М.Кирова. (53)-620.179.14(088.8) (56) 1. Авторское свидетельство СССР

В 868549, кл. G Ol N 27/90, 1980

{прототип) °

SU„„2 594 4 (54) (57) ЭЛЕКТРО)ЩГННТНЫЯ ДЕФЕКТ )

CKOII ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПРОТЯЖЕННЫХ ОБЪЕКТОВ по авт.св. Р 868549, о т л ич а ю ц и и с я тем, что, с целью. повышения надежности контроля при .переменной скорости контролируемого объекта, он снабжен вторым амплитудиьвл селектором, подключенньм к выходу амплитудно-фазового детектора, и последовательно соединенными источником тока ключом, формирователем сброса и конденсатором, подключенньм к выходу ключа, управлякщий вход формирователя сброса соединен с выходом формирователя строб-импульса, а резистор выполнен регулируемьи, + к входу управления которого подклю- 9 чен выход ключа.

1027594

Изобретение относится к нераэрушающему контролю и может быть использовано для определения дефектов в электропроводящих протяженных иэделиях.

IIo основному авт.св. 9 868549 известен электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов, содержащий последовательно соединенные генератор, проходной дифференциальный вихревой преобразователь, 10 амплитудно-фазовый детектор, подключенный своим опорным входом к ге-, нератору, формирователь строб-импульса и логическую схему И, схему уменьшения неконтролируемой эоны, соеди- )5 ненную входом с выходом амплитуднофазового детектора и состоящую иэ последовательно соединенных повторителя, первого и второго ключей, соединенных своими управляющими входами с инверсным и прямым выходами формирователя строб-импульса соответственно, а своими входами соответственно через конденсатор и резистор с нулевой шиной дифференциального усилителя, прямой вход которого подключен к выходу амплитуднофазового детектора, а .выход — через амплитудный селектор к второму вхо" ду схемы И.

Однако при переменной скорости надежность контроля в дефектоскопе

,снижается, так как схема уменьшения неконтролируемой эоны не обеспечивает компенсации сигнала от начала изделия.

Цель изобретения — повышение надежности контроля при переменной скорости контролируемого объекта.

Поставленная цель достигается тем, что дефектоскоп снабжен вторым ампли-40 тудным селектором, подключенным к выходу амплитудно-фазового детектора, последовательно соединенными источником тока, ключом и формирователем сброса и конденсатором, подключенным к выходу ключа, управляющий вход формирователя сброса соединен с выходом формирователя строб-импульса, а резистор выполнен регулируемым, к входу управления которого подключен выход ключа.

На чертеже изображена структурная схема дефектоскопа.

Дефектоскоп содержит последовательно соединенные генератор 1, проходной дифференциальный вихретоковый преобразователь 2, амплитудно-фазовый детектор 3, подключенный своим опорным входом к генератору 1, формирователь

4 строб-импульса, логическую схему .

И 5, формирователь 4 строб-импульса 60 Контроль подключен своим прямым выходом к первому входу логической схемы И 5, соединенной своим вторыми входом с амплитудным селектором 6, последовательно соединенные повтори тель 7, подключенный своим входом к выходу амплитудно-фазового детектора

3, первый ключ 8 н второй ключ 9, соединенные своими управляющими входами с прямьм,и инверсным выходами формирователя 4, соответственно, дифференциальный усилитель 10, соединенный своим прямым и инверсным входами соответственно с выходом амплитудно-фазового детектора 3 и второго ключа 9, а своим выходом — с входом амплитудного селектора 6, конденсатор 11, подключенный к выходу первого ключа 8, резистор 12, подключенный к выходу второго ключа 9, второй амплитудный селектор 13, подключенный входом к выходу амплитудно-фазового детектора 3, последовательно соединенные источник 14 тока, третий ключ 15, подключенный своим управляющим входом к выходу второго амплитудного селектора 13, а выходом к управляющему входу резистора 12 и через конденсатор 16 к общей шине, формирователь 17 сброса, подключенный входом к прямому выходу формирователя 4, а выходом к управляющему входу резистора 12.

Выходы первого и второго ключей 8 и 9 соединены соответственно через конденсатор 11 и резистор 12 с нулевой шиной.

Дефектоскоп работает следующим образом.

При контроле длинномерных иэделий (не показаны) на выходе ампли тудно-фазового детектора 3 возникают разнополярные сигналы от начала и конца изделия. Формирователь 4 формирует строб-импульс Контроль, расположенный между сигналами от начала и конца контролируемого изделия. Выходной сигнал амплитудно-фазового детектора 3 поступает на прямой вход дифференциального усилителя, 10 и через повторитель 7 и открытый ключ 8 заряжает конденсатор

11, напряжение которого повторяет выходной сигнал детектора 3. Стробимпульс Контроль закрывает первый ключ 8 и открывает второй ключ 9, при этом начинается разряд конденсатора 11 через резистор 12. Постоянная времени цепи разряда конденсатора 11 выбирается из условия равенства моментов окончания разряда конденсатора 11 и сигнала от начала изделия..

Напряжение разряда конденсатора li, представляющее собой экспоненту, поступает на инвертирующий вход дифференциального усилителя 10. Сигнал от начала изделия проходит на выход усилителя 10 с укороченным задним фронтом и вызывает срабатывание первого амплитудного селектора 6, выходной импульс которого не совпадает по времени со строб-импульсом Контроль, если в области начала изде1027594

Составитель Ю, Глазков

Редактор E.Ëóøíèêîâà Техред О.Неце Корректор В.Бутяга

Эаказ 4729/47 Тираж 873 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 лия нет дефектов, и поэтому не проходит на выход логической схемы

И 5.

Сигнал от начала иэделия вызывает срабатывание второго амплитудного селектора 13, уровень срабатывания которого равен примерно половине амплитуды сигналов от концов, и конденсатор 16 заряжается от источника 14 тока через третий ключ 15, открывающийся на время действия выходного импульса селектора 13. При переменной скорости контроля изменяется длительность сигналов от концов контролируемого изделия, а амплитуда,остае"ся постоянной, поэтому 15 длительность выходного импульса селектора 13, и, следовательно, амплитуда напряжения конденсатора 16 обратно пропорциональны скорости контроля. Постоянная времени разряда 2д конденсатора 16 выбирается много больше длительности сигналов от концов контролируемого изделия. Величина сопротивления резистора 12 изменяется линейно в зависимости от управляющего напряжения во всем диа-. пазоне изменения скорости контроля.

Напряжение конденсатора 16 поступает на управляющий вход резистора 12 и изменяет постоянную времени цепи разряда конденсатора 11, охра" няя равенство моментов окончания разряда конденсатора ll и сигнала от начала иэделия. В момент окончания строб-импульса Контроль формирователь 17 сброса замыкает конденсатор 16 накоротко, подготавливая его к контролю изделия.

Если на начале иэделия расположен точечный дефект, то задний фронт сигнала от начала изделия будет искажен, и сигнал от дефекта отчетливо проявится на выходе дифференциального усилителя 10, будет зарегистрирован амплитудным селектором 6 и пройдет на выход логической схемы И 5.