Способ определения локальных дефектов магнитного носителя

Способ определения локальных дефектов магнитного носителя

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ ДЕФЕКТОВ МАГНИТНОГО НОСИТЕЛЯ, заключающийся в том, что в исследуе- i MOM магнитном носителе при его непрерывном движении возбуждают резонансные колебания, определяют их собственные частоты и по их изменению судят об изменении механических характеристик Магнитного носителя, о т личающийс я тем, что, с целью повьвления точности определения локальных Дефектов, резонансные колебания возбуждгиют на двух соседних -участках магнитного носителя на нечетных некратных га1 4ониках, причем соседние участки магнитного носителя разделяют протягиванием его по инерционному ролику, а величину локального дефекта определяют по скорости изменения S частоты на набегающем участке относи-, тельно частоты на сбегающем участке.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

3(5В 0 11 В 27 10

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3400771/18-10 (22) 23 ° 02.82 (46) 07.07.83. Бюл. Ю 25 (72) 10.И.Вронский, Я.Ф.Рутнер и К.Д. Колесников (71) Куйбышевский ордена Трудового

Красного Зиамени политехнический инс. титут им. В.В.Куйбыаева (53) 534 .852(088 .8) (56) 1. Патент Японии 9 47-1429, кл. 110-Е21, опублик,. 1972.

2. Патент США 9 3612529, кл. G 11 В 27/34, опублик, 1974.

3. авторское свидетельство СССР

В 460478, кл. G 01 N 3/00, 1971 (прототип) ° (54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЛОКАЛЬHblX ДЕФЕКТОВ МАГНИТНОГО НОСИТЕЛЯ,ЯО„„А заключающийся в том, что в исследуе- . мом магнитном носителе при его непрерывном движении возбуждают резонансные колебания, определяют нх собственные частоты и по их изменению судят об изменении механических характеристик магнитного носителя, о т— л и ч а ю шийся тем, что, с целью повьааения точности определения локальных Дефектов, резонансные колебания возбуждают на двух соседних участках магнитного носителя на нечетных некратных гармониках, причем соседние участки магнитного носителя разделяют протягиванием его по инерционному, ролику, а величину локального дефекта определяют по скорости изменения Я частоты на набегающем участке относи- тельно частоты на сбегающем участке.,1027774

Составитель В. Добровольский

Редактор С.Пекарь Техред М.Костик Коррек тор С . Шекмар

Заказ 4749/5б Тираж 594 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, r.Óæãîðîä, ул.Проектная, 4

Изобретение относится к приборостроению, а именно к способам опре" деления локальных дефектов магнитного носителя.

Известен способ определения локальных дефектов магнитного носителя, »- 5 заключающийся в том, что на исследуемый магнитный носитель при его непрерывном движении осуществляют запись меток по двум ортогональным направлениям, воспроизведение записанных сиг-$p налов и сравнение их с эталонными сигналами (1).

Данный способ обладает высокой точностью, однако его недостаток сос-. тоит в том, что он очень сложен и экономически нецелесообразен.

Известен способ определения локаль« ных дефектов металлического магнитного носителя, заключающийся s том,что на него непрерывно .записывают .синусо- 0 идальный сигнал с .постоянным по вели". чине током намагничивания, воспроизводят записанный сигнал и индицируют его уровень, затем стирают записанный сигнал и снова воспроизводят этот участок магнитного носителя с индикацией уровня воспроизведения. Про-. цесс повторяют несколько раэ, причем определение локального дефекта определяют по изменению воспроизводимых уровней (2).

Недостаток такого способа состоит в невозможности контроля в процессе непрерывного движения магнитного носителя. 35

Известен также способ определения локальных дефектов магнитного носителя, заключающийся в том, что в иследуемом магнитном носителе при его непрерывном движении возбуждают peso-40 нансные колебания определяют их собственные частоты до и после термообработки и Ilo их изменению.судят об : изменении механических характеристик магнитного носителя (3).

Однако известный способ характеризуется недостаточной точностью определения локальных дефектов магнит" ного носителя вследствие невозможности реализации равномерного натяжения по всей длине магнитного носителя, что приводит к появлению механических возмущений, Цель изобретения - повышение точности определения локальных дефектов . магнитного носителя.

С .этой целью в исследуемом магнитном носителе при его непрерывном движении возбуждают резонансные колебания, определяют их собственные частоты,и по их изменению судят об изменении механических характеристик магнитного носителя, причем резонансные колебания возбуждают на двух соседних участках магнитного носителя на нечетных некратных гармониках,при этом соседние участки магнитного носителя разделяют протягиванием его по инерци онному ролику, а величину локального. дефекта определяют по скорости изменения частоты иа набегающем участке относительно частоты на сбегакщем участке.

Это позволяет повысить точность определения локальных дефектов меха" нических характеристик магнитного носителя при одновременном упрощении используемого оборудования.

В изготавливаемом непрерывно движущемся магнитном носителе, выполняемом в виде ленты.или проволоки, воз буждают резонансные колебания на двух соседних участках, разделенных проткгиванием магнитного носителя по инерционному ролику, на нечетных некратных гармониках. Ограничение соседних участков магнитного носителя по их внешним краям осуществляется протягиванием его по двум роликам. Возбуждение резонансныХ колебаний на нечетных некратных гармониках уменьшает вероятность всзникновения параметрического резонанса между соседними участками. Этой же цели служит использование инерционного ролика, разделяющего соседние участки магнитного но сителя. При отсутствии дефектов маг- нитного носителя отношение частот на набегающем участке и на сбегающем участке имеет постоянное значение.

При появлении дефекта магнитного носителя, на набегающем участке магнитного носителя происходит изменение

C частоты собственных резонансных колебаний, причем о величине локального дефекта судят по скорости изменения частоты на набегающем участке относительно частоты на сбегаккцем участке.

Использование изобретения позволяет повысить точность определения локальных дефектов магнитного носителя при осуществлении контроля качества непрерывно независимо от длины магнитного носителя.