Теневой способ измерения аберраций

Теневой способ измерения аберраций

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

№ 103230

Класс 42h, 35oI

СССР

Bc8roe y ч

IIR НтиО-Т8хнйчЗ, сЧуд бнг пуотека М д

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ТЕНЕВОЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АБЕРРАЦИЙ

Заявлено 7 октября 1950 г, за ¹ 05268/436275 в Гостехннку СССР

Предмет изобретения

Известные спосооы измерения аберраций при помощи теневых устройств основаны на примене непрозрачных экранов, например, лезвия ножа, нити, щели решетки или экрана с фигурным вырезом п т. п.

Способы, основанные на примененитг непрозрачных или цветных решеток, пригодны для измерения только больших аберрации.

Способы, в которых используется в качестве экрана тонкая нить, также непригодны для измерения малых аберраций пучков с малым апертурным углом.

Предлагаемый тоне вой спосоо позволяет измерять аберрации независимо от их величины.

Измерения производятся при помощи узкого прямолинейного фазового экрана, перемещаемого микрометром.

Сущность способа заключается в том, что вместо непрозрачной нити, применяемой при обычном теневом способе, вблизи изображения щели теневой YcTBHOBIIH располагают сетку с узкими прямолинейными фазовыми экранами переменной ширюны. Получаемое изображение щели, параллельное экранам, оолее яркое и контрастное, чем при других способах, частично пли целиком покрывает один из узких фазовых экранов.

При этом в зрачке теневой установки наолюдаются дифрагцпонные IIO;IOcbI от фазового экрана или его края.

При перемещении экрана в направлении, перпендикулярном изображению щели, на зрачке теневой установки перемещаются дифракцпонныс полосы. Ло величине перемещения экрана и величине перемещен во одной пз полос определяют значение аберраций исследуемой системы.

Теневой спосоо измерения аберраций птпческих систем, отличающийся тем, что, с цельго увеличения контрастности п повышения яркости дифракционной картины, в плоскости изображения щели теневой установки, перпендикулярно или вдоль оптической оси, перемещают сетку с узкпмп прямолинейными фазовыми экранами порем HHOI(ширины.