Прибор для оптического контроля качества поверхности

Прибор для оптического контроля качества поверхности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

1. ПРИБОР ДЛЯ ОПТИЧЕСКОЮ . КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПСеЕРХНОСТЙ отражающих, преимущественно цилиндрических , испытуемых образцов по методу световрго сечения, включающий в .себя ооветитепьный тракт и тракт формирования изображения, где осветительный тракт включает в себя источник света, расположенную за ним кольцевую диафрагму и оптическую систему, а тракт формирования изображения - оптическую систему, форме-. рующую изображение , и фотоэлектрический приемник с расположенной перед ним кольцевой диафрагмой, ив обоих трактах . предусмотрены зеркала для отклонения лучей, отличающийся тем, что, как ОЛЯ осветительного тракта, так И для тракта фо{жшрования изображения предусмотрен конусообразный рефлектор 6, 10, окватывающий испытуемый образец 9 и имеющий в середине направляющие 8,17,20, 21 для испытуемого образца 9,причем отражающая поверхность каждого рефлектора 6, 10 имеет фо{ыу внешней поверхности усеч§ш1ого конуса и оба рефлектора 6, 1О так расположены друг относительно друга, что их малые основания расположены в непосредственной бтеости друг от друга и что отклоняющие зеркала 5, 11 в осветительном тракте и в тракте формирования изображения имеют по одному направляювдему устройству 7, 16 для движущихся через .прибор испытуемых образцов 9, пренмуйественно под действи «4 силы тя (П жести. 2. Прибор по п. 1,0 т л и ч а ю-г Щи и с я тем, чтог рефлектор 18 представляет собой единое цепое и отражаю- Шая поверхность 19 вме форму внещней пов хноств двух усеченных конусов 1 сопр;гисасающихся своими малыми основа .ниями, к 4to в середине рефлектора 18 располсжены направляющие 20« 21 для испытуемого образца. эо 9

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН (19) (11) З 5р (01 В 11/24

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ и для тракта формирования изображения предусмотрен конусообразный рефлектор 6, 10, охватывающий испытуемый обраэец 9 и имеющий в середине направляющие 8, 1 7,20, 21 для испытуемого обраэпа 9,прячем отражающая поверхность каждого рефлектора 6, 10 имеет форму внешней поверхности усеченного конуса и оба рефлектора 6, 10 так расположены друг относительно друга, что их малые основания расположены в непосредственной близости друг от друга и что отклоняющие зеркала 5, 11 в ocseтнтельном тракте и в тракте формирования изображения имеют по одному направляющему устройству 7, 16 для движущихся через, прибор испытуемых образцов 9, g преимущественно под действием силы тяжести.

2. Прибор по п. 1 о т л и ч а ю- ш и и с я тем, что, рефлектор 18 представляет собой единое целое и отражаю- -шая поверхность 19 имеет форму внешI ней поверхности двух усеченных конусов соприкасающихся своими малыми основаниями, и что. в середине рефлектора 18 располякены направляющие 20, 21 для испытуемого образца.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (89) 131200 ГДР (21) 7770172/25-28 . (22) 04.05.78 . (31) g P Q 01 B/198712 (46) 15.09.83. Бюл. М 34

, (72) Уве Рюттингер (ГДР) (71) ФЕБ Отто Бухвитц Старкстром-Ан лагенбау, Дрезден (ГДР) . (53) 531.717(088,8) (54) (57) 1. ПРИБОР ДЛЯ ОПТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОС-"

ТИ отражающих, преимущественно цилиндрических, испытуемых образцов по методу светового сечения, включанмций в себя ос ветительный тракт и тракт формирования изображения, где осветительный тракт включает в себя источник света, расположенную за ним кольцевую диафрагму и оптическую систему, а тракт формирования изображения - оптическую систему, формиp71aolyIo изображение, H фотоэлектрический приемник с расположенной перед ним кольцевой диафрагмой, и в обоих трактах предусмотрены зеркала для отклонения лучей, отличающийся тем, что, как для осветительного тракта, так

ЕНИЯ ц

Р .*

Цепью изобретения явпяется создание конструктивно простого прибора без пере мещаемых элементов дпя оптического койтропя качества поверхности испытуемых цилиндрических Образцов, где транспортировка испытуемых образцов в процессе контроля упрощена, позволяющего непрерывно и экономично исследовать испытуемы е цилиндрические образцы.

Поставленная цель достигается тем,: что в приборе дпя оптического контропя качества поверхности отражающих, пре,ийушественно ципиндрических, испытуемых

1 304i

Изобретение относится к установкам дпя оптического контропя качества отражающих, преимущественно ципиндрических испытуемых образцов по методу светового свечения. 5

У известных приборов для оптического контропя качества поверхности методом светового сечения лучи от источника света, проходя через шепевую дииррагму, образуют световую плоскость, которая, 10 в свою очередь, образует с поверхностью испытуемого образца определенный угол. Попученное сечение профиля рассматривается с увеличением под микроскопом и анапиэируется. С, помощью этого прибора можно контропировать лишь плоские поверхности испытуемых образцов или ци-: линдрические тела вдоль образующей.

Контроль качества поверхности вдоль конр, тура сечения невозможен. 20

Прибор для оптического контроля поверхностей цилиндрических теп вращения, включающий в себя устройство освещения, отклоняющие зеркала, системы, формирующие изображение, и фотоэлектри«25 ческий приемник, описан в Q Е» ,Р5 1.041.263. Дпя контроля испытуемых образцов по всей боковой поверхнос- . .Ти вокруг них поворачивается стойка, на которой устанавливаются оптические элементы. В этом случае невозможно использование принципа светового сечения. В описаном в СН-Р5 527409 приборе дпя контропя поверхностных неровностей у кабелей предусмотрено расположение преимущественно нескольких источников света вокруг испытуемого образца,.которые освещают его в форме линий. Ограженный свет при этом подается на фотоэпектрический приемник. Из-за установки 4 нескольких истОчникОВ сВета этот прибОр очень спожен..Поочередное включение ис точников света по времени и анализ измерительных сигналов также сопряжены с бодьшими техническими трудностями.

S67 2 образцов по методу светового сечения, включающем в себя осветительный тракт и тракт формирования иэображения, где осветитепьный тракт включает в себя источник света, расположенную эа ним. кольцевую диафрагму и оптическую систему, а тракт формирования изображения — oIIтическую систему, формирующую изображение, и фотоэлектрический приемник с распопоженной перед ним кольцевой диафрагмой, и в обоих трактах предусмотрены зеркала для отклонения лучей, как дпя осветительного тракта, так и для тракта формирования изображения предусмотрен рефлектор в форме конуса, охватывающий испытуемый образец и имеющий ь середине направпяюшие для испытуемого образца, причем отражиацая поверхность каждого рефпектора имеет форму внешней поверхности усеченного конуса и оба рефлектора так распопожены друг относительно друга, что их малые основания расположены в непосредственной бпиэости друг от друга и что отклоняквцие зеркала в осветитеяьном тракте и в трак те формирования изображения имеют по одному направпяющему устройству дпя ..движущихся через прибор испытуемых образцов, преимущественно под действием силы тяжести.

Рефлектор представляет собой единое целое и отражающая поверхнрсть имеет форму внешней поверхности двух усечен— ных конусов, соприкасающихся своими малыми основаниями, и в середине рефпектс>ра расположены направляющие для испытуемого образца.

Кроме того, преимуществом прибора явдяется то, что для ципиндрических тел контроль качества поверхности вдопь некоторого контура поперечного сечения возможен с помощью несложных средств, причем конструкция прибора проста и не включает в себя подвижных элементов.

Благодаря наличию направляющих просто реализуется транспортировка испытуемых .образцов через прибор.

На фиг. 1 изображена оптическая схе - ма прибора, на фиг. 2 - рефпектор.

К осветительному тракту относится источник 1 света, который через конден- сатор 2 освещает кольцевую диафрагму 3.

Дапее следует оптическая система 4, отклоняющее зеркало.5 со сквозным отверстием, а также рефпектор 6, имеющий внутри форму конуса. Через Отверстие отклоняющего зеркала 5 и через середину рефлектора 6, имеющего внутри форму кос (3 1041867 4 нуса, проходят направляющие 7 и 8 для образец 9, движущийся через прибор по ,транспортировки испытуемого образца 9 направляющим 8 и 17., Вдоль внешнего через прибор. контура поперечного сечения испытуемого

К тракту формирования изображения образца 9 возникает световая полоса 22, относятся следующие элементы конструк- g. Отраженный от испытуемого образца 9 ции, расположенные по направлению pac свет:проходит через рефлектор 10, откло» пространения света: рефлектор.lO, имею-, няюшее зеркало 11 оптическую систе щий внутри форму конуса, второе отклоня- му 12 и попадает на диафрагму 14. Здесь ющее зеркало 11 со сквозным отверстием,, возникает профялограмма испытуемого циоптическая система 12 и прикрывающая 30 линдрического образца 9, Диафрагма 14 фотоэлектрический приемник 13 кольцевая служит для диафрагмирования иэображедиафрагма 14. <Фотоэлектрический приим- ния. Если, например, глубина дефекта поник 13 соединен с анализирующим устрой- верхности йспытуемого образца 9 превыством 15. Через отверстие отклоняницего. сит, размер, определяемый диаметром кольэеркала 11 и через середину рефлекто + )g: цевой диафрагмы 14, то часть иэображера 10 также проведены направляющие 16 ния испытуемого образца экранируется и 17. Как видно из фиг. 1, осветитель-:,диафрагмой. Расположенный эа кольцевой ный тракт и тракт формирования изобра- . диафрагмой 14 фотоэлектрический приемже щя сконструированы с максимально, . ник 13 вырабатывает сигнал, который возможной симметрией, что обеспечивает gp подается на анализирующее устройство 15. экономичность изготовления отдельных;. Анализирующее устройство может быть элементов конструкции. связано с некоторой системой, позволяю:щей классифицировать испытуемые образНа фиг. 2 изображен рефлектор 18 как . цы или отсортировывать дефектные испы . единое целое, отражающая поверхность 19gj: туемые образцы. которого имеет форму внешней поверхнос- ., Вместо диафрагмы 14 необходимую ти двух усеченных конусов, соприкасаю- . кольцевую форму может иметь также свещихся своими ManblMH основаниями, Внуч точувствительный слой фотоэлектрического ри рефлектора 18 также предусмотрены приемника 13, на который отображается . направляющие 20 и 21 для испытуемого >jo профилограмма испытуемого образца 9. образца. Освещаемая источником 1 света" . Признано изобретением по результатам кольцевая диафрагма 3 проецируется on-. экспертизы, осуществленной Ведомством тической системой 4, отклонякицим зерка-.: по изобретательству Германской Демокралом 5 и рефлектором 6 на испытуемый тической Республики.

1041 Ì7

ВНИИПИ Заказ 7112/41 7ираж б02 Подписное

Филиал ППП "Патент, г.Ужгород,ул. Проектная,4