Способ контроля ширины рабочего зазора магнитной головки

Способ контроля ширины рабочего зазора магнитной головки

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ШИРИНЫ РАБОЧЕГО ЗАЗОРА МАГНИТНОЙ ГОЛОВКИ , основанный на регистрации области действия полей головки оптическими средствами , отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, магнитную головку помешают в дифракционную камеру электронного микроскопа с направлением длины зазора вдоль оптической оси микроскопа , изменяют ток промежуточной линзы, лолучают лоренцмикроскопическое конвер .рентное изображение поля в области рабочего зазора головки и по ординате коивер гентного изображения определяют прямо лропорциональную ей ширину рабочего заiopa .

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (50 G 11 В 546! !

1 ай

t !

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

М ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3394797/18-10

; (22) 08.02.82 (46) 30.09.83. Бюл. № 36 (72) Я. М. Погосян, Т. А. Погосян, А. К. Овсепян и Г. А. Вермишян

{7l) Ордена Трудового Красного Знамени ереванский госуда рстве нный университет (53) 534.852.2 (088.8) (56) !. Авторское свидетельство СССР

¹ 431544, кл. G 11 В 5/46, 03.10.72.

2. Авторское свидетельство СССР № 593241, кл. G 11 В 5/46, 16.08.76 (прото. тип) „„SU „„1045265 А (54) (57) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ШИРИНЫ

РАБОЧЕГО ЗАЗОРА МАГНИТНОЙ ГОЛОВКИ, основанный йа регистрации области действия полей головки оптическими средствами, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, магнитную головку помешают в дифракционную камеру электронного микроскопа с направлением длины зазора вдоль оптической оси микроскопа, изменяют ток промежуточной линзы,,получают лоренцмикроскопическое конвер.гентное изображение поля в области рабочего зазора головки и по ординате конвер гентного иэображения определяют прямо

1ропорциональную ей ширину рабочего за,ора.

1045265

Изобретение относится к приборостроению, в частности к технике .магнитной записи, и может быть использовано для контроля параметров магнитных головок.

Известно устройство для контроля ширины рабочего зазора магнитной головки, содержащее магнитный элемент, укрепленный на немагнитной основе, смонтированный с возможностью сопряжения с рабочей поверхностью магнитной головки, оптически прозрачную пластину и оптический индикатор (1J .

Недостаток данного способа состоит в том, что измеренная ширина рабочего зазора является функцией от величины тока намагничивания.

Наиболее близким к предлагаемому является способ контроля ширины рабочего зазора магнитной головки с помощью источника света, оптической системы в виде двух поляроидов, магнитооптического датчика, оптического индикатора и источника постоянного напряжения для питания оомотки магнитной головки (2).

Однако известный способ характеризуется недостаточной точностью контроля ширины рабочего зазора головки.

Цель изобретения - повышение точности измерения.

Поставленная цель достигается тем, что при измерении ширины рабочего зазора магнитной головки, основанном на регистрации области действия полей головки оптическими средствами, магнитную головку по,)ещают в дифракционпую камеру электронного микроскопа с направлением длины зазора вдоль оптической оси микроскопа, изменяют ток промежуточной линзы, получают лоренцмикроскопическое изображение поля в области рабочего зазора головки и по ординате конвергейтного изображения определяют прямо пропорциональную ей ширину рабочего зазора.

На фиг. 1 и 2 изображено расположение головки в электронном микроскопе, при котором возникающая сила Лоренца F, перпендикулярна скорости электронов ч, направлена от зазора (фиг. 1) или к зазору (фиг.2), что в режиме недофокусирования (4I величина недофокусирования) формирует на плоскости изображения промежуточной линзы S дивергентное изображение поля головки (фиг. 1) и конвергентное изображение (фиг. 2); на фиг. 3 - — изображение поверхности записывающей головки в отсутствии поля (а), дивергентное изображение (б) и конвергентное изображение (в), положс5

1Î

30 ние фокуса которого отмечено буквой L на фиг. 4 -- то же, для воспроизводящей головки.

Фигуры 3 и 4 получают при одинаковом режиме работы электронного микроскопа.

Контроль ширины рабочего зазора осуществляют следующим образом.

Магнитную головку помещают в дифракционную камеру электронного микроскопа с направлением протяженности зазора вдоль оптической оси микроскопа, затем подают рабочий ток на подмагничивающие катушки (- 2 ) и подбирается такая величина тока промежуточной линзы (— 150ma) (режим расфокусирования % ), чтобы на конвергентном Лоренцмикроскопическом изображении поверхности головки появилась бы петля с выраженным фокусом. Затем, сфотографировав на одной фотопластинке изображение поверхности головки без подмагничиваюшего тока и при величине тока, соответствующей сфокусированному конвергентному Лоренцмикроскопическому изображению (в данном случае 2 ), при одном и том же значении тока промежуточной линзы, определяют ординату фокуса L петли конвергентного изображения с помощью оптического микроскопа.

Ширина зазора Q= К ) т) где L — ордината фокуса; т) — степень увеличения микроскопа; К вЂ” коэффициент, характеризующий глубину зазора, определяемый эмпирически.

Из приведенный фиг. 3 и 4 хорошо видно различие ординат фокуса (двух различных головок.

Для осуществления измерения требуется иметь на одной фотопластинке изображение поверхности головки в отсутствии поля (а) и конвергентное изображение (в) при наличии поля.

Для приведенной (фиг. 3) магнитной готовки величина L, = 23890 мк, = 1000, К = 0,28,при этом ширина измеряемого зазора равна 6,7 мк, а для головки на фиг. 4 — t = 7940 мк, и соответственно ширина зазора — 2,2 мк.

Повышение точности определения ширины рабочего зазора предлагаемым способом обусловлено 1ем, что вместо непосредственного измерения очень малой величины порядка нескольких микрон, измеряется значительно большая величина порядка десятков миллиметров, что достигается благодаря использованию Лоренцова отклонения.

10452б5

О

Щгг. 2

ВНИИПИ Заказ 7551/52 Тираж 594 Подписное

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4