Способ определения радиационных характеристик покрытий на металлах

Способ определения радиационных характеристик покрытий на металлах

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАДИА1ЩОННЫХ ХАРАКТЕРИСтаК ПОКРЫТИЙ НА МЕТАЛ ЛАХ включающий нанесение эталонного покрытия на обратную сторону плоского металлического образца, помещение образца в вакуум, облучение и нагрев образца источником излучения и измерение температуры образца и плотнос-ти излучения, облучающего образецj отличающийся тем, чтО;, с целью расширения функциональных возможностей способа образец нагревают излл шнием источника до одинаковой установившейся температуры при облучении образца со стороны исследуемого и эталонного покрытия и определяют радр ационные характеристики исследуемого покрытия по формулам А -SА , - Е, р А (Е .- Е ) w V-T4 А бт где А - поглощательная способность покрыт1Ш| - излучательная способность покрытия; Е.5 Е - плотности излучения5 облучающего образец со стороны исследуемого и эталонного покры. тий соответственно Т - температура образца (j - постоянная СтефанаБольцмана , индексы и, э относятся к исследуемомуи эталонному покрытиям соответственно

СОЮЗ СОВЕТжИХ социАлистич ескина

РЕСПУЬЛИН рр G Gl 3 "i18..r

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А ВТОРСИОМУ СВИД=ТЕПЬОТВУ

F. z

А = А

gl

Е Гз

F., A ) йТ А

ГОСУДАРстЭЕнный НОМИТЕТ по изоьРетениям и отцрцтиям

ПРИ ГКНТ СССР (21) 3384804/18-25 (22) 18.01.82 (4б) 15.08.90. Бюл. Я 30 (72) Л.Я.Падерин (53) 535.231.2(088.8) (56) Новицкий Л.А., Степанов Б,И.

Оптические свойства ма.териалов при низких температурах,М., Иашинострое. ние, 1980, с. 19.

Авторское свидетельство СССР

У 530555, кл. С 01 N 25/00, 1976. (54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАДИАЦИОННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОКРЬГГИЙ HA МЕТАЛЛАХj включающий нанесение эталонного покрытия на обратную сторону плоского металлического образцн, помещенче образца в вакуум, облучение и нагрев образца источником излучения и измерение температуры образца и плотнос-ти излучения, облучающего образец, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных

Изобретение относится к радиационной пирометрии и может быть использовано для определения радиационных характеристик покрытий на металлах.

В связи с широким применением на летательных аппаратах систем пассивного терморегулирования проблема определения радиационных характеристик используемых в таких системах терморе-. гулирующих покрытий имеет важное значение.

Известен способ определения радиационных характеристик (излучательной

„„SU„, 1ЯЯ Я(} А1, возможностей способа, образец нагре вают изл-.л|ением источника до одинаковой установившейся температуры при облучении образца со стороны исследуемого и эталонного покрытия и опреде/ ляют радиационные характеристики исследуемого покрытия по формулам где А — поглощательная способность покрытия; Я вЂ” излучательная способ— ность покрытия; Е,, Š— плотности излучения, облучающего образец са стороны исследуемого и эталонного покры-: тий соответственно: Т вЂ” температура образца; 6 — постоянная СтефанаБольцмана, индексы и, э относятся к

Г исследуемому и эталонному покрытиям соответственно. способности) покрытий на металлах, в которых экспериментальный образец нагревают пт источника излучения и затем охлаждают H вакуумной емкости с постоянной температурой стенок.

При этом измеряют скорость охлаждения образца и с учетом его теплоемкости определяют излучате. †.ьную способность покрытия на образце.

Недостатком способа является то, что для измерения излучательной способности покрытий на образцах необХодимо знать их теплоемкость, определениг которой треоуг(прсег;; (((г ПЬ(((Х пР»» i»»H а Пит.;» r (Н(»ЬХ 7»е

Кроме тo? о,. возможны зпачитель .- ."-.-грешности при определении сксрсст"-, нягревя и охлажде-.ия Образца,.

Hаиболее блйзк(п по технич=-c:co(I сущности к нЯстОЯщему ГпОсОбу яелЯ ется способ ОпредРления ряднa,".;Ho:. !(ых характеристик покрыти=((-;:а металлах, ВECЛЮЧЯЮЩ(»»(Hаi(Е «ЕНИЕ. З Тg J(i ННОЕ«-,,-(oк;. Ь;,— тия на Обратную сторону глссксгс мстя(глического образца, :-,Омгщгни-" с рязця в в якуу>(, Облучение c(нагре(з

Образца источникам излучевия и .:.змгрение температуры образца и пла-на«--тй излучения, облучающего образец, способе определяется,(((«pcpHE"-НЯЯ ПОЛ(УСфЕРИЧЕСКЯЯ ИЗЛУЧЯТЕЛЬНЯЯ Спо—

СО б но с т ь п(о к рь(т (в (, С по с с б o i H o B 2 H измерении температур плоск(ы об. азцав с исследуеьзжи покрытиями и зтя-лонных образцов и вклю»(яет нан=.=с.г.:.:::.= зталанного покрытия на Обе сторонь:: зталанных образцов и обратные с.;Оро-ны образцов с иссл(едуемъ(ь(и покры-иями и ус ановку образцов в апре(»елен=(о(.: порядке в одной плоска(ти в псле

»»ИСТЫХ Пс ОКОВ ИСтОЧН(,-.-а»«(З («»t»I „-,((Я

Излучательн»(ю способно(.ть исслгду"-—

;.(О О ПОКРЬ(т(:,Я ОПОЕДЕЛ;Д((Т»i»I :-,« :„ не стно -(излучатель чс(» -(с с обнос» Й этзлОннс; О пoEcpbà ья пс . езуль (;:, та(, измерения температур Образцов с слB»(+BMEM пскрь1тпе((и зтапон -I(»fx - б". разцов.

ОДHBÇCO B HBC C . HO»I ((о — Обе — (:- О »с « деляется паглощательная способность пОкрытий Кроме тагс Для опр(Делен %Р( излучательной способности пс(крыт % требуются дапслнительнь(е зталсн -ые образць(„

Целью изобретения является pacm(рение функцисналънь(х вазможностей спасооа,. т. р. Опведеление (»дь(сн(зги"."

Ho c излучательно(способна тьк. гюг и поглоь(ательной способности по((сытий на металле.

Поставленная цель достигается те(=:, что в способе определения радиацис((5(( ных характеристик покрь(тий на металлах, включающем нанесение зталонного покры.тия на обратную сторону плоского металл-%:.— ческого образца, помещение образца в ва=куум, облучение и нагрев образца источником излучения и измерение температуры образца и плотности излучения, облучающегс образец, образец нагре-" вают излучением источника до од(в(а-.01.1(4- -.-- -;=,-.(i/i(((»,(CЗ Т-:=((((Я;Ь УРН(ПРИ --. .(О (! . : Л»:((-(О (О т, К t(»iтi-; I,- . (.(I«t+IIC— с«;к;щате (ь-яя с:О; .,б((ост= З (:(:ОНЬ("С«Х-r=(ТУР(О"-С (; З i Е,,ОННОГО П-;— за «. ОГ«:3 (Я,— -. - . ОГ т1Я(Ная . ((Ьана-.

ЕОJII,цма.н,=. (.:.,-,ексь(:-.: с ес:;-; т я к

С((ПУ â€”.- (О . - И "Я-:IO:= HO It i O- ОЫ" ИЯМ .:Оствг-. c «HOHHo. х ь:::ro-- ..: i.".енки катар:((Охлаждаю (с

i каис г"=-нных тем-(cpaò»; (, (,(Ораз =.I! -.";а.;-,яв("ива«ю i —. (»(О((с -(»(»((„.(тых п«(тсь(св (: iI:и .-:а - :;;-.учения .": пво((ес -.= з:-."(-(с»»(»м н" H " !—,,.,:-, .з:»((»б -(»(»: 3 « ., i:«=: гв = е зк(r;, ;rollÿ: Р (ь (:, opa!:ii . i i- -EciI»rp

З " 1ir; Е! Е«» «O:(К")Ь("(i " " " (- и ис тoLT"-",и(:", ((и(=ко((o(.. т;--(.-»еоят-.-ы (4 -л-,,».я те(IÚ,Н-» ю и пс глс(((яте ть;:-;».«(О-. нс(((енщ(тг —::.пс-.—.,;I.o .-.Яла-; а (;-бра зца з б.»аз(те, :(з О: ((ени((уравнений -:: . :-»Пют («. От" (,-1Г((»»((5

БЯРЬ((РУЯ ПЛОТНОС o,O -; .:УЧЕНИЯ HC— тсчн нкя,- можно получит темпе pc»(òóp

Б зависимости от разыграв однородно=

"o поля лучИсто гО пото(C«I ис тс яника изл чения всзмаж((0 о. iE(ÎÂpp»((: н наг ис= следавани(.. нескольких -,бран- oв., i

,.пОсОО реялизОЕBE(в ъ (тр((((,. Тве для

:п-:згделен :-: псглсщат †.; : Ой «пс ОбнссРедактор С.Титова

Техред Л.Олийнык

Корректор С.Невкун

Заказ 3084 Тираж 425 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям н открытиям прн ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101

5 104572 ти по отношению к солнечному излучению и иэлучательной способности применяемых на летательных аппаратах терморегулирующих покрытий в диапазоне температур Т = 150 — 450 К.

Размер солнечного светового потока составляет 0,4 х 0,4 м, что поэволя2 ет одновременно исследоватв до 16 образцов с размерами 0,05 х 0,05 м

При этом погрешности определения А„,,Е д будут практически равны погрешно0 6 стям определения Аэ, Еэ и составляют 2 - 4X.

Таким образом, в одном эксперименте одновременно можно исследовать основные радиационные характеристики— поглощательную по отношению к солнечному излучению и излучательнууо способности партии терморегулирующих покрытий. Кроме того, отпадает необходимость применения в эксперименте до . полнительных эталонных образцов.