Способ измерения толщины ферромагнитных изделий и покрытий

Способ измерения толщины ферромагнитных изделий и покрытий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СП(Х:ОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛ ЩИНЫ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ И ПОКРЫ ТИЙ, заключающийся в том, что изделие намагничивают и измеряют реакцию погая намагничивающей системы на поле изделия, отлнчаюшийс я тем, что, с целью повышения точности измерений, поле намагничивающей системы шунтируют слоем из ферромагнитного материала, в которс создают магнитную неоднородность, измеряют поле магнитной неоднородности и по его величине определяют искомый параметр. Ш -

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

„„SU „„1 04 S302 511 С, 01 В 7. 06

В:. ., . т,,у э .".„:, А,.

-РАич;:+., ... (-", Н ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblTHA (21) 3344807/2528 (22 ) 05. 10.81 (46) 15.10.83. Бкл. % 38 (72) М.И..Майзенберг, В,У, Мошкович, М.Д.Каплан и В.Т.Бобров. (71) Всесоюзный научно-исследовательский институт по разработке нераэрушаюцщх методов и средств контроля ка чества материалов (53) 531.717 (088,8) (56) 1. Приборы для нераэрушающего контроля материалов и иэделий. Справочник под ред» В.В,Клюева, М., "Машиностроение, 1976, с, 71.

2, Там же, с.73 (прототип) (54)(57) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛ.

ЩИНЫ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ

И ПОКРЫТИЙ, заключающийся в том, что изделие намагничивают и измеряют реакцию поля намагничивающей системы на поле иэделия, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точ ности измерений, поле намагничивающей системы шунтируют слоем из ферромагнитного материала, в котором создают магнитную неоднородность,. измеряют поле магнитной неоднородности и по его величине определяют искомый параметр,,1 10483

Изобретение относится к нераэрушающему контролю и может быть использова,но для измерения топшины ферромагнитных иэделий и покрытий.

Известен способ измерения толщины ферромагнитных иэделий и покрытий, который основан на измерении вариаций магнитного поля в магнитном перешейке ,парщщельном намагничиваюшей системе (1).

Недостатком этрго способа является низкая точность измерения, связанная с применением механической упругой системы в сочетании с небольшими размерами измерительной,шкалы.

Наиболее близким к изобретению явля- 1 . ется способ измерения толщины ферромат нитных изделий и покрытий, заключающийся в том, что изделие намагничивают и измеряют реакцию намагничиваюшей системы на поле изделия 123 ° 20

Недостатком способа является низкая очность измерений, связанная с анизотропией свойств и чистотой обработки ферромагнитного изделия или основы, а также надежностью контакта полюсов магнита с контролируемой поверхностью.

1Хель изобретения - повышение точносС ,ти измерения толщины ферромагнитных иэделий и покрытий.

Укаэанная цель достигается тем, что согласно способу измерения толщины ферроматнитных иэделий и покрытий попе намагничивающей системы шунтируют слоем из ферромагнитного материала, в

° котором создают магнитную неоднородность, измеряют поле магнитной неоднородности и по его величине определяют искомый параметр.

При шунтирования намагничиваюшей системы ферромагнитным слоем в нем замыкается основная часть магнитного потока. При этом возникает магнитное попе локальной. магнитной неоднородности, которое можно измерить магниточув02. 2 ствительным элементом (датчиком Хопла, ферроэондом и т.д.). При взаимодействии этого поля с ферромагнитным изделием величина поля в области малых топшин изменяется пропорционально толщине изделия или немагнитному зазору, образуемому покрытием. По величине измеренного попя определяют топшину иэделия либо покрытия.

На чертеже представлено устройство, реализующее способ, Устройство содержит намагничивающую систему 1, расположенную на ферромагнитной пластине 2 с искусственно нанесенным дефектом 3, установленной на контролируемое изделие 4. Иагниточувствительный элемент 5 распапожен на ферромагнитной пластине 2 и подключен к измерительному прибору 6.

Устройство работает следующим образом.

Попе намагничиваюшей системы 1, замыкаясь в ферромагнитной пластине 2, создает локальное магнитное попе дефекта 3; При изменении толщины контропируе мого Йэделия 4 или толщины его покрытия значение попя дефекта 3, регистрируемое с помощью магниточувствительного элемента 5, изменяется пропорционально и с помощью измерительного прибора 6 можно получать значения толщины изделия или покрытия. °

Взаимодействие поля локальной магнит. ной неоднородности с изделием позвопяет увеличить. локальность измерения, исключает механический контакт полюсов намагничивающей системы с контролируемым иэделием, что резко уменьшает влияние чистоты обработки поверхности на точность измерения. Повышение локальности также снижает влияние на точность измерения аниэотропии магнитных свойств контролируемых иэделий и их геоме трии, Составитель В,Филинов

Редактор В.Ковтун Техред Т.Фанта Корректор В,Гирняк

Заказ 7916/46 Тираж 602 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, -35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4