Способ исследования неровностей поверхности

Способ исследования неровностей поверхности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ НЕРОВ НОСТЕЙ ПОВЕРХНОСТИ, заключающийся том, что срезают шлиф исследуемой верхности, пересекающий исследуем ./ неровности, снимают топограмму шлифа и обрабатывают ее, о т л и ч а ющ и и с я тем, что, с целью упрощения способа, перед среза1шем шлифа на исследуемую поверхность наносят многослойное покрытие общей толщиной не менее максимальной высоты при исследуемых неровностей, слои которого попарно контрастны меходу собой и с исследуемой поверхностью по цвету или фактуре, толщина каходого слоя одинакова и постоянна в направлении нормали к поверхности,-являющейся приле- - гающей к исследуемой поверхности, а шлиф срезают на глубину, обеспечивающую срезание вершин наиболее выступающих неровностей.

СОЮЗ СОБЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН 511 G 01 В 5/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOIVIV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (2.1) 3360097/ 15-28 (22) 20.11.81 (46) 15.11.83. Вюл. r" 42 (72) В. Л. Доброскок, В. Ф. Дрожин, А. И.Грабченко и А. И. Михайлов (71) Харьковский филиал Головного специального производственного конструкторско-технологического бюро по рациональному применению режущего инструмента |оргприминструмент" (53) 531. 717.8(088.8) (56) 1.Авторское свидетельство СССР

652432, кл. G 01 B 5/28, 1979. (54)(5, ) спосов исслкдовлния 11кРОВНОСТКЙ ПОВГРХНОСТИ, заключающийся в том, что срезают шлиф исследуемой поверхности, пересекающий исследуемые

„„SU„„1054669 А неровности, снимают топограмму шлифа и обрабатывают ее, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью упрощения способа, перед срезанием шлифа на исследуемую поверхность наносят многослойное покрытие общей толщи— ной не менее максимальной высоты при исследуемых неровностей, слои которого попарно контрастны между собой и с исследуемой поверхностью по цвету или фактуре, толщина каждого слоя одинакова и постоянна в направлении нормали к поверхности, являющейся прилегающей к исследуемой поверхности, а шлиф срезают на глубину, обеспечивающую срезание вершин наиболее

Ю выступающих неровностей. прилегающей к исследуемой поверхности.

Для получения толограммы снимают шлиф 5 с глубиной среза, обеспечивающей пересечение наиболее выступающих неровностей исследуемой поверхности. Конфигурация и расстояние между границами слоев на шлифе позволяют судить о расположении и крутизне неровностей исследуемой поверхности, Необходимая глубина шлифа может быть получена или путем снятия шлифа инструментом, твердость которого ниже, чем твердость материала исследуемой поверхности или путем периодического контроля шлифа.

Пример . При исследовании поверхности алмазного круга АЧК

150х10х3АСВ 100/80, МВ1 10ОХ на поверхность круга наносят многослойное вакуумно-плазменное покрытие на установке "Булат" с титановым катодом. При нанесении первого слоя покрытия из камеры откачивают реакционный газ и получают покрытие из титана, при нанесении второго слоя в камеру впускают реакционный газ (азот) и получают покрытие из нитрида титана. Слои титана и нитрида титана, контрастные по цвету, чере-. дуются и, в дальнейшем. Нанесение каждого слоя производят 20 мин,что обеспечивает получение .слоев покрытия толщиной 5 мкм. Всего наносят во семь слоев покрытия общей толщиной

40 мкм, что превышает максимальную высоту зерен круга.

Снятие шлифа выполняют на доводочном станке мелкозернистыми. шкурками с последующей доводкой алмазной пастой АСИ 3/2 на стеклянной планшайбе. Необходимая; гщтбина снятия шлифа обеспечивается тем, что твердость алмазных зерен круга вьппе твердости зерен мелкозернистых шкурок. Последнее останавливает процесс снятия шлифа при вскрытии вершин наиболее выступающих зерен.

Затем снимают топограмму шлифа и обрабатывают ее.

Предлагаемый способ позволяет упростить исследование, обеспечивая возможность получения топограммы путем снятия одного шлифа и исключая необходимость в проведении многократного фотографирования или иной документальной фиксации топограммы..

1 1054669

Изобретение относится к техничес- ким измерениям в машиностроении и может быть использовано при измерении шероховатости поверхностей.

Известен способ исследования неров- 5 костей поверхности, заключающийся

s том, что срезают шлиф исследуемой поверхности, пересекающий исследуеппае неровности, снимают топограмму шлифа и обрабатывают ее. 10

Топограмму получают, путем последовательного снятия неровностей за несколько проходов и фотографирования поверхности после кажлого прохода на один и тот же негатив(1 ).

Недостатком известного способа является сложность снятия несколькхи шлифов в пределах высоты неровностей поверхности.

Цель изобретения — упрощение спо- 2р соба.

Указанная цель достигается тем, что согласно способу исследования неровностей поверхности, заключающемуся в том, что срезают шлиф исследуемой поверхности, пересекающий исследуемые неровности, снимают топограмму шлифа и обрабатывают ее, перед срезанием шлифа на исследуемую поверхность наносят многослойное

I покрытие общей толщиной не мешее максимальной высож исследуемых неровностей, слои которого попарно контрастны между собой и с исследуемой поверхностью по цвету или фактуре, тол35 щина каждого слоя одинакова и посто янна в направлении нормали к поверхности, являющейся дрилегающей к исследуемой поверхности, а шлиф срезают на глубину, обеспечивакнцую cpesauue вершин наиболее выступающих неровностей.

На фиг. 1 изображен вертикальный разрез исследуемой поверхности с нанесенным многослойным покрытием . на фиг. 2 — топограмма, полученная при снятии шлифа, пересекающего наиболее выступающие неровности исследуемой поверхности,(контрастные по цвету слои покрытия выделены штри50

zos к ой) .

Способ реализуют следующим образом.

На исследуемую поверхность 1 наносят контрастные по цвету слои 2,3 . и 4 покрытия, общая толщина которого не меньше максимальной высоты иссле55 дуемых неровностей. Каждый из слоев покрытия имеет постоянную толщину в направлении нормали к поверхности, 1054669

Составитель М. Модестов

Редактор М.Келемеш Техред Ж.Кастелевич Корректор Н. Яцола

Заказ 9086/46 Тиразк 602 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР ло делам изобретений>и открытий

113035, Москва, Ж-Тз, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент 1, г. Уигород, ул. Проектная, 4