Способ определения цикличности рельефографического носителя информации

Способ определения цикличности рельефографического носителя информации

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЦИКЛИЧНОСТИ РЕЛЬЕФОГРАФИЧЕСКОГО НОСИТЕЛЯ ИНФОРМАЦИИ путем многократных циклов записи и стирания на нем дифракционной решетки, измерения интенсивностей первого дифракционного максимума и шума и сравнения измерен-п них величин с заданным уровнем, о тл и ч ающ и и с я тем/ что, с целью повышения точности путем учета запоминающих свойств носителя, записывают и сбирают поочередно ч дифракционных решеток, повернутых одна относительно другой на угол О Q 4 4 , при каждом цикле одновременно измеряют интенсивность первого максимума записываемой решетки и решеток предащущих циклов, а величину цикличности определяют по номеру цикла/ начиная с которого ннтенсивгность первого максимума от записанных ранее решеток достигает заданного .уровня.; (Л С

СОЮЭ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН (19) (11), 3(51) G 03 С 5/02 Ф Ъ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (2l) 3432051/28-12 (22) . 28. 04. 82 (46) 15. 12.83. Бюл. Р 4б (72) Л. Н. Беляева, Ф. П. Буряк, В.Г. Воробьев и Л.N. Панасюк (53) 772. 93 (088. 8) (56) 1. Тезисы докладов I Всесоюзной конференции по радиооптнке, r. Фрунзе, май 1981, с. 54-55. (54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЦИКЛИЧ»

НОСТИ РЕЛЬЕФОГРАФИЧЕСКОГО НОСИТЕЛЯ

ИНФОРМАЦИИ путем многократных циклов записи и стирания на нем дифpaKIJHoHHoA решетки, измерения интенсивностей первого дифракционного максимума и шума и сравнения измерен- ных величин с заданным уровнем у л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности путем учета запоминающих свойств носителя, sanaсывают и стирают поочередно и дифракционных решеток, повернутых одна относительно другой на угол 0 ((й при каждом цикле одновременно измеряют интенсивность первого макП симума записываемой решетки и решеток предыдущих циклов, а величину цикличности определяют по номеру. цикла, начиная с которого интенсив.— ность первого максимума от записанных ранее решеток достигает заданного уровня.

1061098

Изобретение относится к фотографическим способам и процессам.

Известен способ определения цикличности рельефографического носителя информации путем многократных циклов записи и стирания на нем 5 дифракционной решетки, измерения интенсивностей первого дифракционного максимума и шума и сравнения измеренных величин с заданным уровнем (lj .

Недостатком этого способа являет- IO ся то, что, записывая оптическую информацию одного вида, нельзя оценить величину вклада, обусловленную памятью носителя, в восстановлении записываемого иэображения, что влияет на точность определения величины цикличности.

Цель изобретения - повышение точности путем учета запоминающих свойств носителя.

Для достижения поставленной цели согласно способу определения цикличности рельефографического носителя информации путем многократных циклов записи и стирания на нем дифрак ционной решетки, измерения интенсив ностей первого дифракционного макси мума и шума и сравнения измеренных величин с заданно уровнем записывают и стирают поочередно и дифракционных решеток, повернутых однд от-, -носительно другой на угол 048 при каждом цикле одновременно измеряют интенсивность первого максимума записываемой решетки и решеток предыдущих циклов, а величину цикличности определяют по номеру цикла, начиная с которого интенсивность первого максимума от записанных ранее решеток достигает заданного 40 . уровня

Для осуществления предлагаемого способа луч от источника когерентного излучения с помощью светоделительных элементов делят йа и предметных 4 и один опорный пучок, с помощью системы зеркал на фототермопластический носитель информации, помещенный в устройство записи - стирания, направляют один из предметных и опорный пучок, наложением плоских волновых фронтов опорного и предметного пучков на фототермопластическом носителе формируют дифракционную решетку, производят запись первой дифракционной решетки, стирают записанное иэобрах<ение, в процессе записи и стирания производят измерения интенсивности первого дифракционного максимума и расчитывают дифракционную эффективность. Затем наложением плоских волновых фронтов опорного и второго предметного пучка, повернутого системой отклоняющих зеркал относительно первого пучка, на фототермопластическом носителе формируют вторую дифракционную решетку, повернутую в плоскости кадра на угол 8 относительно первой, производят ее запись и стирают полученное иэображение. В процессе записи и стирания измеряют интенсивность шума, первого дифракционного максимума второй регистрируемой решетки и первой дифракционной решет« ки без проецирования ее изображения и расчитывают дифракционную эффективность. При выполнении соотношения

X<+ 1 где Х - интенсивность первого, диф1 ракционного максимума второй решетки;

Хд — интенсивность шума;

Xg -. интенсивность первого дифраю ционного максимума восстановившейся первой решетки; процесс записи продолжают.

Наложением плоских волновых фрон.тов опорного и третьего предметного пучка формируют дифракционную решетку, повернутую на угол 6 относительно второй. Так же как и во втором цикле производят запись, стирание и регистрацию интенсивности шума и первых дифракционных максимумов.

Циклы записи, стирания и регистрации производят до тех пор, пока выполняется соотношение

34 и-<

>i 10.

, „ вос

Примером реализации предложенного способа является определение цикличности носителя, имеющего полупроводниковый слой состава толщиной

2,2 мкм, проявляющий слой, состоящий из двойного сополимера бутилметакрилата со стиролом, толщиной

1,5 мкм. Носитель помещают в устройство записи - .стирания, разогрева ют до температуры текучести термопластического слоя 78 С. Луч от источо ника когерентного излучения (лазера ЛГ-78) с помощью светоделительных элементов делят на 3 предметных пучка и один опорный пучок. С помощью прерывателя и системы,поворотных зеркал на рельефографический носитель проецируют опорный и первый предметный пучок. Выдерживают паузу в в течение 1-2 с, за это время система приходит в равновесие, затем включают зарядовое устройство и в течение

2-3 с производят запись первой дифракционной решетки, после прекращения зарядки,.носитель выдерживают при

85< С, при такой температуре в тече-.. ние 1-3 мин происходит стирание изображения дифракционной решетки. В процессе записи и стирания дифракци1061098

Составитель В. Аксенов

Редактор О. Колесникова ТехредК.Костик

Корректор А.Тяско

l, Заказ 10036/49 Тираж 473

BHHHIIM Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Филиал ППП Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 онной,решетки производят контроль шетки и производят третий цикл эапивеличины интенсивности первого диф- си — стирания изображения. ракционного максимума регистрируе- Начиная с 36 цикла интенсивность мой решетки и шума. Величину интен- прошедшего света в первом дифракцисивности первого дифракционного мак- .онном максимуме восстановившейся ресимума используют для расчета дифрак- 5 .шетки становится отличной от нуля. ционной эффективности из соот» Величина шума 2 ° 10 8 Дж/см . Частичношения ное восстановление ранее записанного

J4 изображения говорит о том, что начиJe нает работать память носителя. При где Х4 - интенсивность первого дифрак 16, таком соотношении ционного максимума;

- интенсивность света в падаю- с@ шем опорном пучке. 2 З 2.(О-В,S.

Для Х величина интенсивности 1,3 ° co

10 в Вт/см2, При полном стирании )5 частично восстановившеесЯ иэобРажение иэображения дифракционной Решетки мало влияет на вновь записанное интенсивность прошедшего света в пер- иэобРажение. ПоэтомУ можно проводить вом дифракционном максимуме, а так- последующую запись же дифракционная эффективность равна Данный носитель выдерживает 43 нулю. Величина шума 3 ° 10 9 Дж/oM2. цикла запись — стирание. Интенсив

Наложением плоских волновых фрон ность пеРвого дифракционного макситов опорного и второго предметного мума Регистрируемой решетки 2 пучков на носителе формируют вторую «е16 Дж/cM интенсивность света, 6 дифракционную решетку, повернутую дифрагированного на восстановившихв плоскости кадра на 60 относитель- ся Решетках 2,4;10 Дж/см и велино первой дифракционной решетки, 25 чина шума 3 10 дж/см .-8 2 через 1-2 с (чтобы система пришла s При таком соотношении сигнала равновесие) включают зарядовое уст- шума и интенсивности света дифраройство и в течение 1-3 мин произ- гированного на восстановившихся реводят запись второй дифракционной ре- щетках, к дифракционной эффектившетки, В процессе записи и стирания 30 ности регистрируемой решетки производят контроль шума, величины г.<0 интенсивности первого дифракционного

=7,44 Ц максимума второй регистрируемой . 32 3 i 3 (S e0 в 4 щ 8 g.e0- )Ы решетки, а также величину интен- частично восстановленное йзображесивности первого дифракционного мак. 35 ние ранее записанного изображения,. . симума первой решетки, иэображение не проецированного в данном цикле, которой в данном цикле не проециро- существенно ухудшает вновь записанвалось на носитель. Во втором цикле ное изображение и дальнейшая запись ранее записанное иэображение не вос- не проводится. станавливалось. Поэтому формируют 40 Таким образом, данный способ поэтретью дифракционную решетку, повеР- :воляет повысить точность измерения нутую в плоскости кадра на 60 от- путем учета запоминающих свойств но осительно второй дифракционной ре-, сителя.