Способ настройки дефектоскопа
Патент 1073699
Авторы
Классы МПК
Способ настройки дефектоскопа
Иллюстрации
Реферат
СПОСОБ НАСТЮЙКИ ДЕФЕКТОС1СО. ПА, заключающийся в том, что в эталонном образце с нормированным дефектом возбуждают ультразвуковые колебания, принимают эхосигналы , отраженные от дефекта при заданном уровне приема, я по амплитуде этих сиполов, устанюливают урсюень чувствительности дефектоскопа , отличающийся тем, что, с целью повышения точности настройки, опреде.1яют амплитуду эхо-сигналов при сканирования нормированного дефекта по всей его длине и по этим амплитудам выбирают уровень чувствителыюс1И дефектоскопа, а вероятность выявжнкя дефекта пря выбранном уровне чувствителыюсти определяют по отношению длины участков дефекта, от которых амплитуда эхо-сигнала выше заданного урогкя приема, к обшей его длине.
СОЮЗ СОВЕТСИИХ
5 /ИП
РЕСПУБЛИК
09) (И) ЗсЮ 01 1 1 29 04
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
k AB TOPCkOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ
ГОСУДАРСТВЕННЬЙ НОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЬП ИЙ (21) 3520763/25 — 28 (22) 10.12.82 (46) 15.02.84. Бюл. У 6 (72) А. А. Романенко, Б. Н. Богданович н Е, И. Белоусов (71) Всесоюзный ордена Трудового Красного
Знамени научно — исследовательский и конструкторско-технологический институт трубной промышленности (53) 620.179.16 (088.8) (56) 1. Ермолов И. H. Методы ультразвуковой дефектоскопии. М., МГИ, 1967, с. 222 — 227, 2. ГОСТ 17410 — 78, с. 12 (прототип). (54) (57) СПОСОБ НАСТРОЙКИ mearaГОСКОПА, заключающийся в том, что в эталонном об. разце с нормированным дефектом возбуждают ультразвуковые колебания, принимают эхоснгналы, отраженные от дефекта при заданном уровне приема, и по амплитуде этих сигналов, устанавливают уровень чувствительности дефектоскопа, отлича ющи йся тем, что,с цельвповышения точности настройки, опреде.1явт амплитуду эхо-сигналов при сканировании нормированного дефекта по всей его длине и по этим амплитудам выбирают уровень чувствителывстн дефектоскопа, а вероятность выявления дефекта при выбранном уровне чувствителыкю ти онределявт по отношению длины участков дефекта, от которых амплитуда эхо-сигнала . выше заданного уровня приема, к общей его длине.
1073699
Составитель Г. Федоров
Техред Л.Пилипенко
Редактор М. Келемеш
Корректор В. Бутяга
Тираж 823 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
1I3035, Москва, К-35, Раушская иаб., д. 4/5
Заказ 322/44
Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для настройки дефектоскопа при ультразвуковом контроле изделий, Известен способ настройки ультразвукового дефектоскопа, заключающийся в том, что в зталонном образце с нормированным дефектом возбуждают ультразвуковые колебания, принимают отраженные от дефекта эхо-ситиалы при заданном уровне приема, а.по амплитуде этих 10 сигналов устанавливают чувствительность контроля (1).
Однако известный способ имеет низкую точность настройки из-за неравномерности амплитуды зхо-сигналов, отраженных от различных участков дефекта. !
Наиболее близким к изобретению является способ настройки дефектоскопа, заключающийся в том, что в эталонном образце с нормированным дефектом возбуждают ультразвуковые колебания, принимают зхо-сигналы, отраженные от дефекта нри заданном уровне приема, и по амплитуде этих сигналов устанавливают уровень чувствительности дефектоскопа j21.
Не@остаток данного cttoco6tt заключается B том, что невозможно проводить настройку дефектоскопа с требуемой вероятностью дефекта, что снижает надежность проведения контроля.
Цель изобретения — повышение точности настройки.
Цель достигается тем, что согласно способу настройки дефектоскопа, заключающемуся в том, что в эталонном образце с нормированным дефектом возбуждают ультразвуковые колебания, принимают эхо-сигналы, отраженные
m дефекта нри заданном уровне приема, и по 35 . амплитуде этих. сигналов устанавливают уровеиь чувствителъности .дефектоскопа, определяют амплитуду эхо-сигналов при сканировании нормированного дефекта по всей его длине и цф этим амгцтитудам выбирают у )<>вень 40 . чувствительности дефектоскопа, а вероятность выявления дефекта при выбранном уровне чувствительности определяют по отношению длины участков дефекта, от которых амплитуда аха" сигнала выше заданного уровня, к общей его длине.
Способ настройки дефектоскопа осуществляется следующим образом.
В эталонном образце с нормированным дефектом, например в виде риски с определенной глубиной, воэбуждяют ультразвуковые колебания. Принимают эхо-ситналы, отраженные от дефекта, и измеряют их амплитуду при определенном уровне приема. Затем осуществляют сканирование нормированного дефекта по его длине и измеряют амплитуду отраженных от различных участков дефекта эхо-сигналов. По изменению амплитуды эхо-сигналов вдоль длины дефекта определяют вероятность обнаружения дефекта поочередно при каждом уровне чувствительности дефектоскопа. За вероятность принимают отношение суммарной длины участков дефекта, амплитуда отраженных эхо-сигналов от которых выше каждого поочередно рассматриваемого уровня чувствительности дефектоскопа, к обшей протяжен. ности дефекта. Далее по вычисленным отношениям строится вероятностная кривая, описывающая вероятность обнаружения данного дефекта в зависимости от уровня чувствительности дефектоскопа. При контроле уровень чувствитель. ности выбирается по точке на вероятностной кривой в пределах диапазона вероятностей, исходя из требований, предъявляемых условиями работы контролируемых изделий, и соотношения уровней перебраковки н недобраковки.
Таким образом, предлагаемый способ настройки дефектоскопа позволяет значителъно повысить точность настройки, поскольку выбираемый при контроле уровень чувствительности дефектоскопа обеспечивает с требуемой вероятностью выявление дефектов,