Способ контроля качества проволоки из металлокерамического вольфрама для подогревателей электровакуумных приборов

Способ контроля качества проволоки из металлокерамического вольфрама для подогревателей электровакуумных приборов

Реферат

 

(19)SU(11)1079053(13)A1(51)  МПК ⁶    _{G01N33/20, C22F1/18, C22C1/04}(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 27.12.2012 - прекратил действиеПошлина:

(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПРОВОЛОКИ ИЗ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКОГО ВОЛЬФРАМА ДЛЯ ПОДОГРЕВАТЕЛЕЙ ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫХ ПРИБОРОВ

Изобретение относится к порошковой металлургии, в частности к способам контроля качества заготовок из металлокерамического вольфрама для подогревателей электровакуумных приборов (ЭВП). Известен способ контроля качества заготовок из металлокерамического вольфрама для высокотемпературных подогрева- телей ЭВМ, включающий отжиг заготовок, измерение относительного электрического сопротивления при температуре жидкого азота () и отбраковку по заданному пределу относительного электросопротивления. Этот способ позволяет контролировать структуру вольфрамовой проволоки в полностью рекристаллизованном состоянии на начальных стадиях ее изготовления. Недостатком известного способа является невозможность определения температуры начала собирательной рекристаллизации, которая характеризует возможность использования проволоки для изготовления подогревателей ЭВМ. Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к изобретению является способ контроля качества проволоки из металлокерамического вольфрама для подогревателей электровакуумных приборов, включающий получение штабиков для изготовления проволоки, содержащих пузырьки с алюмокремнещелочной присадкой, их обработку до проволоки, микроскопическое исследование, отбраковку. При этом микроскопическое исследование проводят на конечной стадии получения проволоки, а отбраковку проводят по появлению крупных зерен в отожженной проволоке, что определяет температуру начала собирательной рекристаллизации. Известный способ достаточно трудоемок. Это связано с тем, что контроль производят на конечной стадии получения проволоки, что затрудняет корректировку технологии на начальных стадиях процесса ее изготовления. Целью изобретения является снижение трудоемкости процесса контроля качества проволоки из металлокерамического вольфрама для подогревателей электровакуумных приборов (ЭВП). Поставленная цель достигается за счет того, что в известном способе контроля качества проволоки из металлокерамического вольфрама для подогревателей электровакуумных приборов, включающем получение штабиков для изготовления проволоки, содержащих пузырьки с алюмокремнещелочной присадкой, микроскопическое исследование и отбраковку, согласно изобретению микроскопическое исследование проводят на штабиках путем измерения среднего диаметра пузырьков, содержащих присадку, а отбраковку проводят путем сравнения этой величины с заданной величиной среднего диаметра, исходя из условий выполнения соотношения 0,70 1,50 где d_изм измеряемый средний диаметр пузырьков; d_стат среднестатистический измеренный диаметр пузырьков. Проведение контроля на начальных стадиях технологического процесса с целью определения пригодности вольфрамовой проволоки для подогревателей ЭВП стало возможным благодаря обнаруженной зависимости между средним размером пузырьков на штабиках и температурой начала собирательной рекристаллизации в проволоке, полученной из этих штабиков. Известно, что в процессе получения заготовок основное количество алюмокремнещелочной присадки, вводимой в шихту для получения требуемой структуры в отожженной проволоке, испаряется и в штабиках остаются пары (пузырьки), содержащие следы этой присадки. Измерение среднего диаметра пузырьков на штабиках позволяет определить величину температуры начала собирательной рекристаллизации и по ней оценить пригодность этих заготовок для изготовления проволоки для подогревателей ЭВП. Пример осуществления способа. Изготавливают штабики из металлокерамического вольфрама с алюмокремнещелочной присадкой сечением 12х12 мм². Микроскопическое исследование проводят на изготовленных штабиках на растровом электронном микроскопе, где средний диаметр пузырьков определяется при 5000-кратном увеличении по методу Джеффриса. Отбраковку осуществляют путем сравнения измеренного среднего диаметра пузырьков по среднестатистическим диаметрам пузырьков. При этом годными для производства проволоки являются штабики, для которых выполняется соотношение 0,70 1,50, что соответствует температуре начала собирательной рекристаллизации. Результаты контроля температуры начала собирательной рекристаллизации по предложенному способу приведены в табл.1. Для вольфрамовой проволоки диаметром 0,18-0,3 мм, предназначенной для изготовления подогревателей, температура начала собирательной рекристаллизации согласно действующей в настоящее время технологии составляет 1700-1800^оС. Из табл. 1 следует, что выполнение соотношения 0,70 1,50 соответствует температуре начала собирательной рекристаллизации 1700-1800^оС. Сpавнение результатов контроля качества по известному и предложенному способам приведено в табл.2. Как видно из табл.2, оба способа дают аналогичный результат по оценке пригодности проволоки и металлокерамического вольфрама для подогревателей ЭВП, но заявляемый способ в 10 раз менее трудоемкий.

Формула изобретения

СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПРОВОЛОКИ ИЗ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКОГО ВОЛЬФРАМА ДЛЯ ПОДОГРЕВАТЕЛЕЙ ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫХ ПРИБОРОВ, включающий получение штабиков для изготовления проволоки, содержащих пузырьки с алюмокремнещелочной присадкой, микроскопическое исследование и отбраковку, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости, микроскопическое исследование проводят на штабиках путем измерения среднего диаметра пузырьков, содержащих присадку, а отбраковку проводят путем сравнения этой величины с заданной величиной среднего диаметра, исходя из условий выполнения соотношения где d_изм измеряемый средний диаметр пузырьков, d_стат среднестатистический диаметр пузырьков.

РИСУНКИ

Рисунок 1

MM4A Досрочное прекращение действия патента Российской Федерации на изобретение из-за неуплаты в установленный срок пошлины за поддержание патента в силе

Номер и год публикации бюллетеня: 36-2000

Извещение опубликовано: 27.12.2000