Способ и устройство для обнаружения дефектов электрофотографического носителя

Способ и устройство для обнаружения дефектов электрофотографического носителя

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

1. Способ обнаружения дефектов электрофотографического носителя, включающий сканирующую зарядку его поверхности с одновременным измерением тока зарядки, по которому судят о наличии дефек.та, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности, осуществляют предварительную зарядку носителя до уровня, превышающего на 1-100% егорабочий потенциал, после чего проводят сканирующую зарядку до потен-; циала, не превышающего потенциал . предварительной зарядки.§

(19) (И) СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

3(51) 03 С 13/00 уА а

8 д

Vg р .7р у ) t

O Ор

CFK фиг/

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3452015/28-12 (22) 04 ° 06 ° 82 (46) 15,06. 84, Бюл. 9 22 (72) В.И ° Гайдялис, Т,Л.Лазовский, 3,A ..Монтримас и И.-Д.Б.Сидаравичюс (71) Вильнюсский ордена Трудового

Красного Знамени и ордена Дружбы народов государственный университет им. В.Капсукаса и Вильнюсский научноисследовательский институт электрографии (53) 772.93(088.8) (56) 1. Тазенков Б.А., Бойцов В.Г., С андалов Г . Н ., Шнейдман И . Б . Процессы и аппаратура электрографии, Л., Машиностроение, 1977, с. 152178,,(5 4 ) СПОСОБ ДЛЯ ОБ НАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ

ЭЛЕКТРОФОТОГРАФИЧЕСКОГО НОСИТЕЛЯ И

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ. (57) 1. Способ обнаружения дефектов электрофотографического носителя, включающий сканирующую зарядку его поверхности с одновременным измерением тока зарядки, по которому судят о наличии дефек.та, о т л и ч а.— ю шийся тем, что, с целью повышения информативности, осуществляют предварительную зарядку носителя до уровня, превышающего на 1-100% егорабочий потенциал, после чего проводят сканирующую зарядку до потен-; циала, не превышающего потенциал . предварительной зарядки, Ф сО

1097965

2. Способ по и. l о т л и ч а юшийся тем, что за регламентированный уровень тока зарядки принима ется величина тока О, 3-1,0 величины тока при сканирующей зарядке электропроводящей поверхности .

3. Устройство для обнаружения дефектов электрофотографического носителя, содержащее электропроводящую основу для размещения на ней носителя, средство для электрического контакта электропроаодящего слоя носителя с основой, измерительную RCцепь, соединенную с электропроводящей основой, высоковольтный и низко-, вольтный источники напряжения, одни одноименные полюсà KQторых подключены соответственно к коронирующей

Изобретение относится к электрофотографии, в частности к области измерения параметров электрофотографического носителя, и может быть использовано для выявления дефектных 5 мест носителей записи оптической информации, особенно предназначенных для микрофильмирования.

Известен способ обнаружения дефектов злектрофотографического носителя, 1Р включающий сканирующую зарядку его поверхности с одновременным измерением тока зарядки, по которому судят о наличии дефекта.

Известно также устройство для ре-,15 ализации этого способа, содержащее электропроводящую основу для размещения на ней носителя, средство для электрического контакта электропроводящего слоя носителя с основой, измерительную RC-цепь, соединенную с электропроводящей основой, высоковольтный и низковольтный источники напряжения, одни одноименные полюса которых подключены соответственно к коронирующей нити электризатора и управляющему электроду, а другие к второму выводу RC-цепи и схему анализа зарядного тока, подключенную к RC-цепи (1J .

Недостатками известного устройства являются низкая информативность и производительность, а следовательно, и способ характеризуется низкой .информативностью.

Цель изобретения — повышение ин- 35 формативности и производительности .

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу для обнаружения дефектов электрофотографического носителя, включающему сканирующую за- 40 нити элек три з атор а и управляющему электроду, а другие — к второму выводу RC-цепи,и схему анализа зарядного тока, подключенную к RC-цепи, о тл и ч а ю щ е е с я тем,что,с целью повышения информативности и производи тельности,схема анализа состоит из пи кового детектора, вход которого через прерыватель подключен к RC-цепи, делиля напряжения, связанного с выходом пикового детектора, блока сравнения напряжений, первый вход которого подключен к RC-цепи, а второй — к выходу делителя напряжения, и регистратора, подключенного к выходу блока сравнения, при этом ,управляющий электрод электризатора выполнен в виде узкой щели . рядку его поверхности с одновременным измерением тока зарядки, по ко- торому судят о наличии дефекта, предварительную зарядку носителя осуществляют до уровня, превышающего на

1-100% его рабочий потенциал, после чего проводят сканирующую зарядку до потенциала, не превышающего потенциал предварительной зарядки, При этом за регламентированный уровень токозарядки принимают велйчину 0,3-1,0 величины тока при сканирующей зарядке электропроводящей поверхности.

В устройстве для обнаружения дефектов электрофотографического носителя, содержащем электропроводящую основу .для размещения на ней носителя, .средство для электрического контакта электропроводящего слоя носите ля с основной, измерительную RC-цепь, соединенную с .электропроводящей основой, высоковольтный и низковольтный источники напряжения, одни одноименные полюса которых подключены соответственно к-коронирующей нити электризатора и управляющему электроду, а другие — к второму выводу RCцепи и схему анализа зарядного тока, подключенную к RC-цепи, схема анали за состоит из пикового детектора, вход которого через прерыватель подключен к RC-цепи, деЛИтеля напряжения связанного с выходом пикового детектора,. блока сравнения напряжений, первЫй вход которого подключен к RC-цепи, а второй — к выходу дели.теля напряжения, и регистратора, подключенного к выходу блока сравнения, при этом управляющий электрод электризатора выполнен в виде узкой щели .

10979б5

Во время первой электризации. на равляюцее напряжение U меньшее или поверхности. слоя осаждаются ионы и Равное значению потенЦиала преДварислой заряжается. При повторной корон- - тельной зарядки слоя, а на коронируюной электризации зарядами той же по- щие электроды 2 сканирующего электри- лярности ток вторичной сканирующей з атора подается высокое н апряжение с з арядки через слой определяется зна источника 4. Ширина цели в управляю5 чением напряжения на управляющем щем электроде 3 сканирующего электриэлектроде сканирующего электризатора, затора выбирается, примерно, в интера при напряжении, меньшем или равном вале 1-10 мм. Расстояние от электрипотенциалу первичной (однородной за- затора до поверхности испытываемого рядке слоя), этот ток практически ра-1О ЭФС выбирается, примерно, в интервавен нулю. При помещении сканирующего ле 1-10 мм. Выбор таких режимов обусэлектризатора над проводящей подлож- ловлен тем,что вторичная электризакой, ток электризации постоянный и ция сканирующим электризатором не обусловлен лишь параметрами электри- приводит к новым пробоям испытываемозатора. При перемещении сканирующего 15 .го ЭФС, а фоновый ток минимален, Эао электризатора над поверхностью элект- тем щель сканирующего электризато а

Р фотографического слоя с микродефек- устанавливается над проводящей пою. тами происходит вторичное корониро-,, верхностью держателя 9. Проводящее ванне и наблюдаются скачки тока, ве- основание держателя 9 через RC-цепь личина которых может превышать вели- 20 соединено с заземленными плюсами исчину тока на металл. точников напряжений 4 и 5. ПостоянНа фиг. 1 изображены графики пос- ная времени RC-цепи выбиРается в ре-3 в преледовательностей операции определе- < « 10 — 10 с.Ключ 10 замыкается ния дефекта ЭФСу на фиг. 2 — блок- и фиксируется блоком памяти 11 (насхема устройства для осуществления 75 пРимеР, пиковым детектоРом, схемы предложенного способа. их общеизвестны) значение тока электНа фиг. la изображен график из- ризации li поступает на проводящее менения тока сканирующего электриза- снование держателя (на Фиг, la знатора; на фиг. 16 — график напряжения чение этого тока соответствует интерна выходе блока памяти; на фиг. l в — ва-"у 0-1) . С выхода блока памяти 11 график напряжения на выходе блока де- cnrHan (Фиг ° 16) подается на вход лителя; на фиг. l r — графики напря- блока делителя уровня 12, сигнал на жений на входах схемы сравнения; на ходе блока 12 изображен на фиг. 1в, фиг. lд — сигналы на входе блока при- Эатем ключ 10 Размыкается и при перенятия решения.

35 мецении цели электризатора над ад поверхНа фиг. 2 представлена схема ностью ЭФС получаем вторичное распрепредложен ного устройства, деление тока электризации (фиг. la

Устройство ля осуществления йред- интервал 1-10) и на второй вход схеложенного способа содержит сканирующий мы сравнения fIocTyrlaeT текущее значе щелевой электризатор 1 с коронирую- ние тока электриза.ции, ? . Сигналы на щими электродами 2, управляющий элек-40 входах схема сравнения изображены на трод 3, источник высокого напряжения 4Hz lr ° Сигнал на выходе блока 12 и

4 и 5, электрофотографический слой б на одном входе схемы сравнения из 6с проводящей подложкой 7 и полупровод- Ражен на Фиг.: lв. Деление уровня выниковым слоем 8, металлический дер- бирается примерно 0,3 от уровня зафикжатель 9, ключ 10, блок памяти 11, 45 сированногo значения тока Х, на меблок делителя 12, схемы сравнения 13 таллическую подложку ЭФС. Такое делеи блок принятия решения 14. ние вполне оправдано, так как в слуустройство работает следующим об- чае микродефекта с диаметром от десятразом. ков до сотен микрон с поверхности

ЭФС б

ЭФС происходит вторичное коронировааза9к б, помеценный на держателе об- ние и скачок ток в RCка -цепи превышар ца так, чтобы с проводящей под- ет значение тока н ложкой ЭФ б а на металл. При более п е а

С ыл электрический контакт, значительных дефект ектах, диаметры коредварительно заряжается до потек- Topblx достигаю ают миллиметров и более, а не на людается, но ток циала V< на 1-100% больше номиналь- скачка тока не 6 або и ного рабочего значения, Номинальный Х возрастает тает примерно до значения ный я мик о ра очий потенциал. ЭФС, предназначен- тока на метал лическую годложку. Кинены для микрофильмирования, колеб- тика тока 1 превышает лется от 100 о 350 В превышает заданный уроной за т до B . Предваритель- вень, на выходе схема сравнен 13 о В - ия а приняты решения, рядкой до потенциала U< зна- и на входе блок 14 чение которого превышает номинальный 60 получаем с н иг ал, информирующий о нарабочий потенциал, пробиваются элект- личин деф ЭФС ( екта в (фиг. lд) . На рически слабые места ЭФС и скрытые 1 примере осуществления в интервале дефекты становятся видными. На упрац- 1-3 слой дефект де ектов не имеет, в интерл ющи электрод 3 сканирующего элект.— вале 3-4 имеется дефект ризатора 1 от источника 5 имеется дефект с площадью, ника подается уп-» 65 превышаюцей несколько квадратных

1097965

Составитель В.Аксенов

Редактор В.Ковтун Техред Л.Микеш Корректор И.Зрдейи

Заказ 4204/38 Тираж 464 Под п исн ое

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 миллиметров, в интервалах 5-6 и 7-8 имеются микродефекты, так как наблюдаются скачки тока электризации, Таким образом, с помощью предложенного способа выявляются не только

Ю явные, но и скрытые микродефекты диаметром до десятков микрон, Раэбраковка носителей записи оптической информации по дефектности, особенно, предназначенных для микро- 10 фильмирования, является важной проблемой, так как дефектные места носителя в явном виде обнаруживаются только после изготовления микрофиши, поэтому предложенный способ и устройство определения дефектов позволяют не только повысить надежность электрофотографического процесса микрофильмирования, но и избежать повторных рабдт при изготовлении микрофиши.

Предложенные способ и устройство дают широкие возможности автоматизации самого процесса разбраковки ЭФС.