Способ определения качества наклеивания тензорезисторов

Способ определения качества наклеивания тензорезисторов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ.ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА НАКЛЕИВАНИЯ ТЕНЗОРВЗИСТОРОВ, заклю-; чающийся в том, что тензорезистйр наклеивают на образец, пропускают через тензорезистор электрический ток и измеряют его сопротивление, о т л и ч ающи и с я тем, что, с целью повышения точности, после измерения сопротивления образец с тензорезистором охлаждают до отрицательной температуры, нагревают до температуры , при которой проводилось наклеивание тензорезистора.измеряют сопротивление , тензорезистора и по измен.ёнию сопротивления определяют качество наклеивания.

ÄÄSUÄÄ1105754 А

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3599878/25-28 (22) 30.05 ° 83 (46) 30.07,84, егоse 9 28 .172) A.Ã.Øåëåïàåâ и M.Ã.Ðàòêåâè÷ (71) Новосибирский филиал Всесоюэного. научно-исследовательского института транспортного строительства (53) 531.781.2 (088.8) (56) 1.Авторское свидетельство СССР

Р 277360, кл G 01 В 7/18, 1970 °

2.Авторское свидетельство СССР

Р 724919, кл, С 01 В 7/18, 1978 (прототип) (54) (57) СПОСОБ .ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА

НАКЛЕИВАНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ, заключающийся в том, что тенэорезистор наклеивают на образец, пропускают через тензореэистор электрический ток и измеряют его сопротивление, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности, после измерения сопротивления образец с тенэорезистором охлаждают до отрицательной температуры, нагревают до температуры,при которой проводилось наклеивание тенэорезистора,измеряют сопротивление.тенэореэнстора и по изменению сопротивления определяют качество наклеивания.

1105754

Составитель Т. Николаева

РеДактоР М.Келемеш ТехРеД Т. Дубинчак Корректор Е.Сирвхман

Тираж 587 Подписное

BHHHIIH Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д,4/5

Заказ 5585/32

Филиал ППП Патент, г.ужгород, ул.Проектная,4

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к тензометрическим измерениям, и предназначено для определения качества наклеивания тензорезисторов.

Известен способ определения качества наклеивания тензорезисторов, заключающийся в том, что на наклеенный тензорезистор подают импульс электрического тока, в 5-15 раз ггревышающий рабочий, и по обугливанию g основы обнаруживают непроклеенные участки тензорезистора (1 )

Недостатки способа — низкая точность оценки качества наклеивания и невозможность автоматизации процесса определения качества.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ определения качества наклеивания тензореэисторов, заключающийся в том, что тензорезистор наклеивают 2G на образец, пропускают через тензорезистор электрический ток и измеряют его сопротивление (23

Данный способ характеризуется невысокой точностью определения качест-25 ва наклеивания.

Цель изобретения — повышение точности.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения качества наклеивания тензорезисторов, заключающемуся в том,что тен- . зорезистор наклеивают на образец, пропускают через тензорезистор электрический ток и измеряют его сопротивление, после измерения сопротивления образец с тензорезистором охлаждают до отрицательной температуры, нагревают до температуры, при которой проводилось наклеивание тен-, 4О зорезистора, измеряют сопротивление тензорезистора и по измерению сопротивления определяют качество наклеивания.

Способ осуществляется следующим образом.

Тензорезистор наклеивают на образец и пропускают через тензорезистор электрический ток, величина которого выбирается из условия сохранения работоспособности тензорезистора. Измеряют сопротивление тензорезистора. Затем образец помещают в среду, имеющую отрицательную температуру, и выдерживается так в течение времени, необходимого для охлаждения образца до температуры среды. После этого образец нагревают до температуры, при которой проводилось первоначальное измерение,и по истечение времени, необходимого для принятия образцом укаэанной температуры, вновь измеряют сопротивление тензореэистора. Качество наклеивания определяют по изменению сопротивления тензорезистора.

Физическая сущность предлагаемого способа состоит в том, что при охлаждении образца неприклеенные участки тенэорезисторов испытывают сильное коробление, решетка тензореэистора деформируется, в результате меняется его сопротивление. После нагрева образца с некачественно наклеенными тензорезисторами до температуры, при которой производилось первоначальное измерение сопротивления,основа тензорезистора (в силу своей пластичности и наличия остаточных деформаций) препятствует решетке тенэорезистора принять первоначальное положение, в результате величина его омического сопротивления .значительно отличается от первоначальной.

Способ по изобретению позволяет повысить точность определения качества наклеивания тензорезисторов в процессах измерения деформаций и напряжений с помощью тензорезистооов.